欠陥検査ポイント丸わかりアプリケーション事例集エム・アイ・エル

食品包装・容器や各種部品などの欠陥判定ポイントがわかる！自動外観検査のアプリケーション事例集【無料進呈中】

当社は液晶及び半導体検査からスタートし、独自の欠陥検出技術を磨いてまいりました。
汎用的な画像処理とは違う、高い欠陥検出技術を軸に近年は
食品（包装不良）、自動車（金属表面外観）、ガラス・樹脂容器（異物）等へ
対応領域を広げ、300社以上のお客様に当社の装置導入をいただいております。

現在、当社のこれまで磨いてきた、欠陥検出技術を活用した
自動外観検査のアプリケーション事例集を無料進呈しております。

食品包装・容器や各種部品などの欠陥判定ポイントがわかる参考資料となっています。

ご興味ある方は、以下より資料をダウンロードください。

関連リンク - https://www.mil-mail.co.jp/inspection/housou/

基本情報欠陥検査ポイント丸わかりアプリケーション事例集

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