株式会社Wave Technology 高速温度測定システム
- 最終更新日：2019-12-26 14:36:28.0
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高速温度測定システム
本システムは高速性と安定性を特徴としております。
サンプリングはデータ上10msec間隔で表現しておりますが、実質サンプリング間隔は50μsecと非常に高速なサンプリングを実現しております。
独自の解析処理を施し、10msecの高速性と安定性を実現しております。
データ安定性は実力で±0.05℃程度を実現しており、高速性と安定性の両立を望まれるuser様にとって最適なシステムとなっております。
カスタム熱電対との組合せにより、性能を活かすことができます（御用とに合わせご提案）。
基本情報高速温度測定システム
被測定物の温度を、高速（10msec）・多チャンネル（8ch）にて測定し、リアルタイムにグラフ表示／データ集録ができる高速温度測定システムです。
付属のViewerを使用頂くことで、採取したデータをグラフィカルに解析する事が可能です。
高速サンプリングが可能ですので、熱シミュレーションとの整合確認や瞬時的な変化を計測する必要のある研究・工業用途に最適な評価システムです。
[特徴］
●最新の式ハードウエアを中心としたシステム構成により設備の軽量／コンパクト化及び高い信頼性を実現
●試験中に集録データをリアルタイム確認できるVIEWER付属
●カスタム熱電対のご提案
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| 納期 | お問い合わせください |
| 型番・ブランド名 | T-DAQ01 |
| 用途／実績例 | ・大手半導体メーカー様システム熱解析 ・TVメーカー様液晶TV研究開発 ・LEDチップ温度実測 ・各種組み込みシステム内部部品温度モニター |
カタログ高速温度測定システム
取扱企業高速温度測定システム
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半導体およびその応用製品の開発・設計 ◇高周波・光半導体の設計・開発 ◇筐体・機構設計、シミュレーション ◇パワーエレクトロニクス関連設計・開発 ◇アナログ・デジタル電気回路の設計・開発 ◇カスタム計測システム設計、半導体パッケージ設計
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