カスタム計測システムサービス【パンフレット】

・カスタムの熱抵抗検査装置
・半導体製品の熱抵抗解析受託（実測及びシミュレーション）
弊社独自技術により、曖昧な部分を多く含んだ半導体実製品PKGの熱抵抗解析を、これまでにない精度で検証することができます。
『業界初の手法』として特許出願中。 （詳細を見る）

・電子機器における放熱構造の最適化検証。
・熱流体シミュレーションによるシステム熱解析。
・熱対策提案を必要とするアイテムに対し、提案を実施。
・半導体デバイスにおいては、JEDEC環境による実測とシミュレーションの整合検証も実施。

【詳しくはカタログダウンロードまたはお気軽にお問い合わせください】
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『カスタム計測システムサービス』は研究開発環境、及び各種信頼性試験で
求められる機能をオーダー・メイドの「カスタム計測システム」という形で
提供しています。

カスタム計測システム以外にも、受託評価、データ解析ツール
(ソフトウェア)作成、治具製作まで、好適なサービスを幅広くご提供。

その他、信頼性試験用途等で、一部標準品として販売しているシステムも
ございます。

お客様が具体的なアイデアをお持ちでなくても、イメージを
お伝えいただくだけで、課題解決案をご提案いたします。

【特長】
■お客様の研究開発環境で求められる機能をカスタム計測という形でご提案
■アナログ・デジタル技術を活かし、カスタムで計測環境を構築
■お客様だけの専用設備をご提供
※LabVIEW,VB,VEE等に対応

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 （詳細を見る）

WTIではお客様の環境、コストに応じたシステムをご提案いたします。

オーダーメイドの「カスタム計測システム」をはじめ、
データ処理・解析の「ソフトウエアツール」や、カスタム計測技術を生かした
「受託評価サービス」をご提供。

ご用命の際は、お気軽にお問い合わせください。

【ご提案】
■フルカスタムシステムでのご提供
■市販計測器やレンタル機器をいかしたシステムのご提供
■データ処理ソフトのご提供

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 （詳細を見る）

WTIはデバイス周辺・情報通信機器等の設計受託会社です。

『データ解析ツール』は、各種計測器で集録したデータ(CSVファイル等)から
必要な情報を抽出し、表の出力やグラフの自動作成等により、
面倒なレポート作成を強力にサポートします。

人手で行われる作業を自動化することで、作業効率を高めます。

【特長】
■人手で行われる作業を自動化、作業効率が向上
■波形解析、mapデータ処理など、編集ツールを経由して出力することで、
　柔軟性のあるデータ処理が可能
■編集ツール上でデータ分析して所定のフォームで出力させるため、
　機能追加等にも対応しやすくなる

※詳しくは、お気軽にお問い合わせ下さい。 （詳細を見る）

LEDチップ表面温度を接触式で高精度に測定することができます。
弊社開発の高速温度測定システムとカスタム熱電対の組合せにり、極小チップの表面温度を部位別に測定することができます。評価受託、システム販売、熱・応力シミュレーションを含めたソリューションサービスまで幅広いサービス提供を行なっております。 （詳細を見る）

デバイス周辺・情報通信機器等の設計受託を行うWTIでは、保有する
カスタム計測技術やアナログ・デジタル技術といった要素技術を背景に、
試験環境構築・受託評価サービスを提供しております。

『各種電子部品評価』では、複数の計測器を組み合わせる必要があるものや、
専用の測定回路が必要なもの、波形測定が必要なもの等も内容により対応可能です。

【試験対応実績】
■汎用OPAMP(Single/Dual/Quad)
■PWMコントローラ・タイマーIC
■シリーズレギュレータ・シャントレギュレータ
■各種ディスクリート部品 (ダイオード,トランジスタ,FET,IGBT等)

※詳しくは、お気軽にお問い合わせ下さい。 （詳細を見る）

磁場（磁界）の強さ（Oe）に対するシールドプレートの効果検証過程で、リニアホールICを使った検討を実施。
　1（Oe）以下での変動状況を捉える必要がありましたが、市場にあるセンサでは単体性能が出ないため、計測側のソフトウエア
　処理と高精度計測　モジュールの組み合わせにより、高精度検出環境を実現。
　静磁場環境の前提下において、実測とシミュレーションによる磁気シールドプレートのシールド効果検証に活用。 （詳細を見る）

プロセス制御・集録アプリケーション　モデル例をご紹介します。
センサ情報を元に時間確定性の高いリアルタイムな制御（温度・風速・流量等）、集録を行なうような場面において、専用に
　ハードウエアを構築することなく、ソフトウエアのカスタマイズにより、柔軟に評価環境をご用意することができます。

◎詳しくはカタログをダウンロードしてご覧下さい。 （詳細を見る）

『導体抵抗測定システム』は、導通モニタリングシステムとも呼ばれ、
試験槽と連動し、抵抗値変動をリアルタイムにモニタリングできます。

温度センサを活用することで、複数の試験槽を同時に扱うことができるほか、
4線式でMin96チャンネル構成を基準に構成可能です。

【特長】
■接合部の抵抗変化を、ポイントではなく連続的な変化として捉えることができる
■温度サイクル試験槽と連動し、導通抵抗を多チャンネルでリアルタイムにモニタリング
■2台の試験槽に対し、それぞれ独立した関係で試験を実施したいニーズに好適

※詳しくは、お気軽にお問い合わせ下さい。 （詳細を見る）

・落下衝撃試験等、一定周期で機械ストレスを印加するような試験において、ストレス周期毎に10msec間抵抗値データ集録（1μsec間隔で10000point）
・標準構成において最大16ch同時に集録・判定・保存が可能。
・瞬断検知と波形情報の取得を同時に実行。
・集録済みのリストデータ及び波形データについても、付属のViewerソフトにより分析可能。
・応力シミュレーションサービスのご提案も可能。 （詳細を見る）

・温度サイクル槽と連動して、導通部分の瞬断を1μsecの分解能でモニタリングすることができるシステムです。
・半導体PKGの接続信頼性試験等で活用頂いております。 （詳細を見る）

本システムは高速性と安定性を特徴としております。

サンプリングはデータ上10msec間隔で表現しておりますが、実質サンプリング間隔は50μsecと非常に高速なサンプリングを実現しております。
独自の解析処理を施し、10msecの高速性と安定性を実現しております。
データ安定性は実力で±0.05℃程度を実現しており、高速性と安定性の両立を望まれるuser様にとって最適なシステムとなっております。

カスタム熱電対との組合せにより、性能を活かすことができます（御用とに合わせご提案）。 （詳細を見る）

WTIはデバイス周辺・情報通信機器等の設計受託会社です。

『カーブトレーサ自動測定システム』では、カーブトレーサ（370型及び370A型）を
連結及び信号分配する中継BOX製作を行います。

カーブトレーサと中継BOXを制御して、自動測定する環境構築等の実績がございます。
構築環境を用い、当社にて受託評価対応します。

【特長】
■従来、2台のカーブトレーサを使い分けて測定する必要のあった製品を
　一括で自動測定
■高耐圧リレーと大電流リレーで数nAのリーク電流測定から300Aクラスの
　大電流測定まで対応

※詳しくは、お気軽にお問い合わせ下さい。 （詳細を見る）

・試験槽メーカーに依存しない試験が可能なモニタリングシステム。
・お客様の声を反映したオリジナルの集録／解析ソフトとなります。

各メーカー（半導体、電装品、材料、樹脂）様
民間／国の研究機関
受託試験企業

等多くのお客様にご利用いただいております。 （詳細を見る）

・温度サイクル槽と連動して、導通部分の瞬断Eventを1μsecの分解能でモニタリングすることができるシステム。
・最大160chの瞬断Eventを同時にモニタリングすることができ、瞬断Event以外にも関連する複数の情報を取得・表示・保存。
・Event情報（各ch毎）
・Event発生回数、発生期間（瞬断時間）
・サイクル数、温度、冷熱衝撃試験器温度遷移情報（up/down/hold）
・ファイルの扱いについても柔軟に対応しており、複数のファイルを同時に扱うことが可能。
・新規/既存に関わらす、最大15種類のファイルを同時に扱うことが可能。
・既存ファイル選択時は前回終了時点からの継続で試験を実施することが可能。
・アプリケーションソフトは、集録アプリとViewerアプリ（保存データ分析用）の2種類が用意。Viewer機能は集録アプリにも搭載されており、Event発生状況確認やcsvフォーム出力が可能。
・12ch/1ブロックと20ch/1ブロックで異なるアプリケーションを用意（標準：12ch/1ブロック）。 （詳細を見る）

・落下衝撃試験等、一定周期で発生する機械的ストレスに対し、電子部品の導通経路で電気抵抗が高くなる、もしくはOPNEとなる瞬間をモニタリングできるシステム。
・衝撃信号（加速度等）のトリガ情報を基点に前後一定期間を10msec間抵抗値データを1μsec間隔で集録（10000point）。
・管理規格との比較で、各chのピ－ク抵抗値が管理値を超えるとイベント信号を発生することができる。
・保存した情報は、集録中/集録後に関わらず、Viewer機能により再読み出し可能。又、ピーク抵抗値等の結果はテキストデータとして抽出可能。 （詳細を見る）

・高速温度集録システムと特殊熱電対（先端計13μm）を用い、LEDチップ表面の温度測定を行なうことができるシステム。
・システム販売から受託評価まで、ニーズに応じたサービスを提供可能。
・お客様ご要望に沿ったカスタマイズサービスをご提供。 （詳細を見る）

・高速性、高精度の実現　　⇒　　データ間隔 ： 10ms　安定性 ：±0.05℃
・同時8チャンネル計測／リアルタイムモニター が可能。
・トリガモード選択機能（ソフトウエア or　ハードウエア）。
・高速性を維持した長時間（１時間以上）集録が可能。
・”特殊熱電対”を採用し高応答／高精度を実現。熱電対：Ｋ型タイプ、極細先端25μm径
・詳細分析が可能なViewerソフト付属。 （詳細を見る）

・試験槽と連動し、導体抵抗の自動モニタリングを行なうことができるシステム
・集録と同時にリアルタイム分析が可能
・標準チャンネル数192ch　高寿命リレー接点を採用　100M回(10V/100mA)
・試験設備（冷熱衝撃試験機）と連動した制御が可能
・高耐熱カスタム測定ケーブルの採用 （詳細を見る）

Wave Technologyの『データ処理ツール』は、各種計測器で集録したデータ(CSVファイル等)から必要な情報を抽出し、表の出力やグラフの自動作成等により、面倒なレポート作成を強力にサポートします。

波形解析、mapデータ処理など、編集ツールを経由して出力することで、柔軟性のあるデータ処理が可能となります。
編集ツール上でデータ分析して所定のフォームで出力させるため、機能追加等にも対応し易くなります。

【特長】
■処理内容の設定や抽出が可能
■編集ツールでデータ分析
■所定のフォームで出力
■表やグラフの自動作成
■機能追加にも対応

詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。 （詳細を見る）

当資料は、計測・テストについて、疑問・答えをご紹介しております。

「計装アンプって便利」、「リーク電流の測定方法」、「アイソリューション
アンプの有効活用」、「エイリアスとナイキスト周波数」など当社技術者が
語るノウハウを掲載。

キャラクターが分かりやすく解説した一冊となっております。

【掲載内容（抜粋）】
■#016 計測・テスト～計装アンプって便利ですよ（電流検出）～
■#017 計測・テスト～計装アンプって便利ですよ（微小信号検出）～
■#018 計測・テスト～計装アンプって便利ですよ（GND以外の基準で出力できる）～
■#019 計測・テスト～計装アンプを使う上での注意点～
■#020 計測・テスト～リーク電流ってどうやって測定してますか？～

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 （詳細を見る）