株式会社Wave Technology イベントディテクタシステム(衝撃試験機連動)

イベントディテクタシステム(衝撃試験機連動)

・落下衝撃試験等、一定周期で機械ストレスを印加するような試験において、ストレス周期毎に10msec間抵抗値データ集録(1μsec間隔で10000point)
・標準構成において最大16ch同時に集録・判定・保存が可能。
・瞬断検知と波形情報の取得を同時に実行。
・集録済みのリストデータ及び波形データについても、付属のViewerソフトにより分析可能。
・応力シミュレーションサービスのご提案も可能。

基本情報イベントディテクタシステム(衝撃試験機連動)

・落下衝撃試験等、一定周期で発生する機械的ストレスに対し、プリント基板等の導通経路で電気抵抗が高くなる、もしくはOPENとなる瞬間をモニタリングできるシステム。
・落下衝撃試験機等と組み合わせて使用可能。

価格情報 -
納期 お問い合わせください
用途/実績例 ・イベントディテクタ(イベントディテクト)としての活用
・落下衝撃試験機等と組みあわた評価
・電子機器の接続信頼性評価
・大手半導体メーカーにて導入実績あり

カタログイベントディテクタシステム(衝撃試験機連動)

取扱企業イベントディテクタシステム(衝撃試験機連動)

WTIロゴ_120403.JPG

株式会社Wave Technology

半導体およびその応用製品の開発・設計 ◇高周波・光半導体の設計・開発 ◇筐体・機構設計、シミュレーション ◇パワーエレクトロニクス関連設計・開発 ◇アナログ・デジタル電気回路の設計・開発 ◇カスタム計測システム設計、半導体パッケージ設計

イベントディテクタシステム(衝撃試験機連動)へのお問い合わせ

お問い合わせ内容をご記入ください。

至急度必須
ご要望必須

  • あと文字入力できます。

目的必須
添付資料
お問い合わせ内容

あと文字入力できます。

【ご利用上の注意】
お問い合わせフォームを利用した広告宣伝等の行為は利用規約により禁止しております。

はじめてイプロスをご利用の方 はじめてイプロスをご利用の方 すでに会員の方はこちら

イプロス会員(無料)になると、情報掲載の企業に直接お問い合わせすることができます。

※お問い合わせをすると、以下の出展者へ会員情報(会社名、部署名、所在地、氏名、TEL、FAX、メールアドレス)が通知されること、また以下の出展者からの電子メール広告を受信することに同意したこととなります。

株式会社Wave Technology

イベントディテクタシステム(衝撃試験機連動) が登録されているカテゴリ