【品質向上事例】 NANDデバイスの不良調査

途中で発生する後天的バッドブロックの監視し、発生位置や回数をPCに出力

IFY(データは任意に設定可能)を 繰り返し、途中で発生する後天的バッドブロックの監視などを行います。 試験内容の変更(例：ERASEのみを繰り返す)、バッドブロックの発生位置・ 回数のカウントや、動作時の電源電圧を変えての試験など、お客様のご要求に あわせたアルゴリズム開発が可能です。 【特長・目的】 ■品質管理 ■カスタム対応 ※詳しくは外部リンクページをご覧いただ...

メーカー・取り扱い企業： 東亜エレクトロニクス株式会社 フラッシュサポートグループカンパニー