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非晶質(ガラス)二酸化ケイ素(SiO2)のラマン散乱分光法による構造解…
二酸化ケイ素(SiO2)は半導体における絶縁膜・FPDの基板材料・光学材料・医療機器から装身具に至るまで幅広く用いられていますが、非晶質であるガラスとして構造解析を行うことは非常に困難です。ガラス中でSiO2が環状に結合することに着目し、ラマン測定を行いました。(図1) 単結晶石英ではガラス状態のスペクトルとは著しく異なり、長距離秩序によるフォノンバンドが観測されます。(図2, 図3)...詳しい...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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半導体パッケージなどに対応!多彩な検査経験と実績で御社の品質をサポート…
「納品した部品に不具合品が混入していた為、選別が必要になった」 「クリーンルーム内で検査をする必要が有る」などの困り事はございませんか。 当社は、多彩な検査経験と実績で御社の品質をサポートいたします。 半導体パッケージをはじめ、ソーターパネルやガラス製品、樹脂成型品、 ゴム製品などに対応。検査の事は当社へお任せください。 【この困り事はございませんか?】 ■納品した部品に不...
メーカー・取り扱い企業: コニシセイコー株式会社
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TOF-SIMSによる拭き取り残渣の可視化
医療機器のパンフレット等に洗浄方法を記載する際には、その洗浄方法の妥当性を確認する必要があります。今回は医療機器の拭き取り方法の検証実験として、血液モデル薬物のウシ血清アルブミン(BSA)をアセチルセルロース(TAC)のシート・SUS製メス・ガラスにそれぞれ塗布し、拭き取り前後の成分残渣評価をTOF-SIMSで行いました。その結果、BSAの拭き取りには水よりもエタノールの方が適していることや、基質...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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TD-GC/MSにより部材に付着した微量の有機汚染を分析します。
精密機器や真空装置、半導体製造装置においては、用いられる部材の汚染により製品の品質や装置の安定稼働に悪影響を及ぼすことがあります。本事例では種類の異なる使い捨て手袋でガラス部材を扱い、ガラス部材に付着した有機汚染を発生ガス濃縮装置を用いたGC/MS分析によって分析しました。部材の汚染を評価することで、不具合の原因となる部材の特定や部材汚染の原因の除去、部材変更の検討などに役立てることができます。....
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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クレーム品・異物のトラブルの原因究明・問題解決をお手伝い!製薬会社様・…
異物及びクレーム対応試験を行っております。電子顕微鏡分析・IR分析(有機物分析)・無機元素分析等を行い異物を同定し、トラブルの原因究明や問題解決のためのお手伝いを致します。 対象異物:ガラス、プラスチック、人毛・獣毛、繊維、植物片、金属片、カビ・その他微生物など 1.顕微鏡による観察(位相差顕微鏡・電子顕微鏡など) 2.FT-IRによる有機物分析 3.EDXによる元素分析 異...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社安全性研究センター
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