【半導体製造装置関連】集積回路測高検査装置1型

自動または手動でローディングされたリードフレーム内ICの高さを計測する…

ローディングし、3D高さ計測を実施できる検査装置。 掲載装置は参考品となっております。類似品または全く新しい装置の 作成に対応できますので、まずはお気軽にお問合せ下さい。 【簡易スペック】 ■視野角10mm以内、高さ0.7mm以内の計測可能 ■登録レシピ最大99 ■X,Y軸最小移動分解能1μ ■X軸ストローク最大300mm、Y軸ストローク最大100mm ※詳しくはP...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ライズワン