• FT-NIR プロセス分光計『MATRIX-F II』 製品画像

    FT-NIR プロセス分光計『MATRIX-F II』

    プロセス用途の要求を満たすFT-NIRシステム!過酷な環境にも設置可能…

    です。 革新的な設計により、高精度で一貫した分析結果、ダウンタイムの短縮、 分析メソッドの直接的な移設を実現するとともに、新たなアプリケーションの 可能性を提供。 業界標準の通信プロトコルを完全にサポートしており、上位システムにも 簡単に統合できます。 【特長】 ■正確なインライン測定結果を数秒で出力 ■複数の項目を同時に分析 ■非破壊分析 ■6ポートマルチプレク...

    メーカー・取り扱い企業: ブルカージャパン株式会社 オプティクス事業部

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