研究開発用マルチレンジスペクトロメータ『INVENIO X』

次世代のINVENIOプラットフォームを完成させ、先端研究開発用FT-…

『INVENIO X』は、次世代のINVENIOプラットフォームを完成させ、 先端研究開発用FT-IRの新たなスタンダードを確立します。 「DigiTect」検出器ならびに「Transit」第2試料室を併用することで、 最大7台の検出器を同時に搭載し、それぞれをソフトウェアから自由に 制御することができます。 これにより、遠赤外から可視／紫外までの幅広い領域をカバーすることが ...

メーカー・取り扱い企業： ブルカージャパン株式会社 オプティクス事業部