ムラビューワー

ナノクラスの微細な変化も見逃さない！半自動で欠陥を判別して可視化するこ…

視化し、ED原理を使って 　立体的に欠陥を浮き上げることで、精度よく欠陥検査を可能 ■ムラビューワー２シリーズと自動タイリング機構の組み合わせで、 　サンプルサイズからΦ300ｍｍまで観察視野拡大可能 ■広視野でnano欠陥の数値化マッピングが可能 ■数値化処理を内蔵することで解析処理/完全自動化検査を実現...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社三明 静岡本社、東京・沼津・浜松・大阪・神奈川（横浜）・埼玉・山形・愛知（名古屋）・富山・長野・青森