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薄膜光学特性を非破壊で測定! 手軽に高精度測定できる分光エリプソメト…
O膜 【測定可能な物理特性】 ○膜厚と光学屈折率(n,k) ○屈折率の勾配と材料組成 【アプリケーション】 ○半導体 ○シリコン、有機、化合物半導体 ○太陽電池 ○有機EL ○LED ○ポリマー ○フラットパネルディスプレイ(FPD) ○医療、バイオ ○PETフィルム ○燃料電池 ○グラフェン 【仕様】 ○波長範囲:190nm-2400nm ○測定ス...
メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社
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