• カット野菜用異物除去装置『UDW-Fseries』 製品画像

    カット野菜用異物除去装置『UDW-Fseries』

    PR肉眼では見つけづらい同色の異物もピンポイントで検出・除去。機器選定のフ…

    『UDW-Fseries』は、カット野菜を特殊赤外線カメラにより上下両面から検査し、 検出した異物をイジェクターでピンポイントに除去する装置です。 肉眼では見つけづらい同色の異物が混入している場合にも、高精度に検出・除去可能。 変色した葉の検出もできる、色彩検出機能が付いたタイプもラインアップしています。 ★他にも、様々な検出方式に対応した食品用異物除去装置を提供しています。  ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社服部製作所

  • テカンは第97回日本生化学会大会へ出展します 製品画像

    テカンは第97回日本生化学会大会へ出展します

    PR会期中にブースにてアンケートに回答してくださった方にテカングッズをプレ…

    第97回日本生化学会大会 日程:2024年11月6日(水)~8日(金) 場所:パシフィコ横浜ノース テカンブース:No.5~6 <展示内容> ■小型シングルセル自動分注機 Uno Single Cell Dispenser 面倒な機器のセットアップ必要なし、専用カートリッジですぐに分注可能。 ■卓上型微量分注デジタルディスペンサー D300e アッセイに必要な量のサンプ...

    メーカー・取り扱い企業: テカンジャパン株式会社

  • 【分析事例】XAFSによるGaNのイオン注入ダメージ評価 製品画像

    【分析事例】XAFSによるGaNのイオン注入ダメージ評価

    照射欠陥やアニールによる結晶性の回復を確認することが可能です

    な評価項目となっています。 本資料ではXAFSによってGaN基板へのイオン注入によるダメージを評価した事例をご紹介します。 GaN表面近傍における結晶構造の乱れや、膜中のN2、格子間Nを高精度で検出することが可能です。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】EGA-MS法による発生ガス分析 製品画像

    【分析事例】EGA-MS法による発生ガス分析

    GC/MS:ガスクロマトグラフィー質量分析法

    試料加熱時の発生ガスの定性分析を行う方法として熱分解GC/MS法がありますが、ここで検出された各成分がそれぞれどのような温度で発生するかを調べる方法としてEGA*-MS法が有効です。この方法は、試料を昇温加熱して発生したガスをGCのカラムを通さずに直接質量分析計に導入する方法です。 ...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】エポキシ樹脂の定性 製品画像

    【分析事例】エポキシ樹脂の定性

    TOF-SIMS分析による成分の推定が可能

    れています。エポキシ樹脂の原材料に一般的に用いられるビスフェノール類の試薬について、TOF-SIMSで測定したデータを取得しました。 MSTではサンプルの測定データと標準データとを比較することで、検出されたフラグメントイオンが何の成分由来かを調べることができ、エポキシ樹脂に用いられている材料の推定が可能です。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】XPSによる単結晶Si表面のダメージ評価 製品画像

    【分析事例】XPSによる単結晶Si表面のダメージ評価

    高分解能測定と波形解析を利用してc-Siとa-Siの状態別定量が可能

    活性元素のイオンを照射することで構造の損傷が生じ、アモルファス層が形成されることが知られています。 高分解能なXPSスペクトルではc(単結晶)-Siとa(アモルファス)-Siが異なったピーク形状で検出されることを利用して、この損傷由来のa-Siをc-Siと分離して定量評価した事例をご紹介します。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】SIMSによるGaN系LED構造の組成分析 製品画像

    【分析事例】SIMSによるGaN系LED構造の組成分析

    GaN系LEDの主成分元素の組成を深さ方向に評価可能

    一般的にSIMSでは含有量が%を超える主成分レベルの元素の定量性は低いとされていますが、一次イオンにCs+を用いたMCs+(M:着目元素)検出モードを用いることで、主成分元素の深さ方向の組成分布を求めることが可能です。 GaN系LED構造におけるAl,Ga,Inについて、深さ方向の組成評価を行った例を示します。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】毛髪中ヘアケア剤成分の分布評価 2 製品画像

    【分析事例】毛髪中ヘアケア剤成分の分布評価 2

    使用しているヘアケア剤の種類による浸透成分の違い、分布の違いを可視化

    日常生活で使用しているヘアケア剤が異なる5人(A~E)について、毛髪断面をTOF-SIMSで分析しました。 その結果、ヘアケア剤の種類により検出される成分および毛髪中での分布が異なることが分かりました。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】毛髪中における高級脂肪酸の分布評価 製品画像

    【分析事例】毛髪中における高級脂肪酸の分布評価

    高級脂肪酸の分布を可視化

    毛髪(ヒゲ)の断面についてTOF-SIMSを用いてイオンイメージ分析を行い、皮脂としても検出される高級脂肪酸の分布を調べました。 その結果、脂肪酸の種類により分布が異なることが分かりました。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • エーテル・エステル類【カールフィッシャー水分測定装置 水分計】 製品画像

    エーテル・エステル類【カールフィッシャー水分測定装置 水分計】

    不溶解でも十分に撹拌されていれば問題なく水分の測定可能!水分データのご…

    当資料では、エーテル・エステル類の水分データをご紹介しております。 一般的なエーテル・エステル類は直接法で問題なく測定でき、終点も 安定して検出することができます。 発生液はアクアライトRSA(一般用・非塩素系)を一般に使用しますが、 炭素数の多いエーテル・エステル類はアクアライトRSAに不溶解になります。 不溶解でも十分に撹...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社HIRANUMA

  • アルコール類【カールフィッシャー水分測定装置 水分計】 製品画像

    アルコール類【カールフィッシャー水分測定装置 水分計】

    カールフィッシャー電量滴定法を採用!ヨウ化物イオンの電気分解によって与…

    当資料では、アルコール類の水分データをご紹介しております。 一般的なアルコール類は直接法で問題なく測定でき、終点も安定して 検出することが可能。 発生液はアクアライトRS-A(一般用・非塩素系)を一般に使用しますが、 炭素数の多いアルコール類はアクアライトRSAに不溶解になります。 不溶解でも十分に撹拌されてい...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社HIRANUMA

  • 【資料】しるとくレポNo.37#カスタム計測サービス 製品画像

    【資料】しるとくレポNo.37#カスタム計測サービス

    比較的容易にシステムを構築可能!微小電流検出システムの採用事例をご紹介…

    ★★しるとくレポ 知って得するお役立ち情報★★ 『カスタム計測サービス』とは、お客様の研究開発環境で求められる 機能を、オーダー・メイドの「カスタム計測システム」という形で ご提供するサービスです。 “でもオーダー・メイドなんて敷居が高そう…”なんて思っている方は いませんか?WTIでは、パートナー企業と協力し、既存設備と組み合わせる ことで比較的容易にシステムを構築することが可能...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社Wave Technology

  • 塩酸とフッ化水素酸の分別定量–電導度滴定【電位差自動滴定装置】 製品画像

    塩酸とフッ化水素酸の分別定量–電導度滴定【電位差自動滴定装置】

    塩酸とフッ化水素酸の混合溶液中の各成分を電導度滴定で測定した例をご紹介…

    製品および半導体表面処理液として使用されています。 当資料では、塩酸とフッ化水素酸の混合溶液中の各成分を電導度滴定で 測定した例をご紹介いたします。 電導度滴定により試料溶液の電導度を検出しながら、水酸化ナトリウム 標準液を滴定液に用いた中和滴定を行うことによって塩酸・フッ化水素酸の 順に逐次滴定します。 【掲載内容】 ■測定の概要 ■装置構成および試薬 ■測定手順 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社HIRANUMA

  • セメント中の塩化物イオンの定量【電位差自動滴定装置】 製品画像

    セメント中の塩化物イオンの定量【電位差自動滴定装置】

    塩化物イオン標準液および過酸化水素水を加えて加熱処理!硝酸銀標準液を用…

    物イオン(Cl¯)を定量する 例をご紹介します。 試料を硝酸で溶解し、塩化物イオン標準液および過酸化水素水を加えて 加熱処理したのち、硝酸銀標準液を用いた沈殿滴定によって測定。 終点検出用の電極として塩化物イオン電極を使用した電位差滴定によって 測定が行われます。 【掲載内容】 ■測定の概要 ■装置構成および試薬 ■測定手順 ■測定条件例および測定結果 ■摘要 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社HIRANUMA

  • 【分析事例】軟X線発光分光によるGaNの評価 製品画像

    【分析事例】軟X線発光分光によるGaNの評価

    価電子帯・ギャップ内準位について元素別の情報が得られます

    pDOS)を直接的に得られるため、材料の電子状態を評価する手法として幅広く用いられています。さらに本手法の特長として、1.バルクの情報が得られる 2.絶縁物に対しても帯電の影響を受けず評価可能 3.検出下限が低い(<1atomic%)などが挙げられ、特に軽元素(B,C,N,O等)を含んだ材料の評価に有効です。本資料では測定例としてGaN基板のSXESスペクトルをご紹介します。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

136〜148 件 / 全 148 件
表示件数
45件
  • スリーエムヘルスケア300×300.jpg