カット野菜用異物除去装置『UDW-Fseries』

PR肉眼では見つけづらい同色の異物もピンポイントで検出・除去。機器選定のフ…

『UDW-Fseries』は、カット野菜を特殊赤外線カメラにより上下両面から検査し、 検出した異物をイジェクターでピンポイントに除去する装置です。 肉眼では見つけづらい同色の異物が混入している場合にも、高精度に検出・除去可能。 変色した葉の検出もできる、色彩検出機能が付いたタイプもラインアップしています。 ★他にも、様々な検出方式に対応した食品用異物除去装置を提供しています。 　...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社服部製作所

【省人化に貢献】麺帯外観検査装置　既存ラインに後付け可能！

PRラインカメラ表裏面検査仕様！麺帯の表面異物を自動外観検査します

『麺帯外観検査装置』は、麺帯の微妙な変化に照明の明るさを自動で 変化させ、検査基準のコントラストに合わせる事が出来る為、誤検知を 減らす事が可能な検査装置です。 NG箇所をスクロールマップで表示している為、NG箇所の発生場所が一目瞭然。 検査中にNG箇所の画像のみを表示することができます。 【特長】 ■粉塵対策（カメラ：BOX収納、照明：エアーブロー付き） ■NG箇所をスクロールマップで表示...

メーカー・取り扱い企業： 藤田グループ

【最大5個の試験品を同時に加振】デバイス開発・出荷検査向け加振機

加振周波数100kHzまで　半導体部品をはじめデバイス製品の開発・出荷…

【特徴】 SE-16、SE-11シェーカーは試験品をマウントする台座を直接加工することができ、同時に5つまでセットできます。 台座を直接加工することにより冶具を取り付ける必要がなく、高周波数での歪み・共振を低減しています。 【基本スペック】 ●SE-16 ・周波数　5kHz～100kHz ・加速度　～400m/s2 ・試験品重量　～5グラム ●SE-11 ・周波数　1kH...

メーカー・取り扱い企業： エフ・アイ・ティー・パシフィック株式会社

【超高周波350kHz対応】MEMSセンサー開発向け加振システム

半導体部品をはじめデバイス製品の開発・出荷検査に最適な加振システム　サ…

【基本スペック】 ・周波数　0.5Hz～350kHz ・加速度　～600m/s2 ・試験品重量　最大25kg ・サイン波、スイープ、フィールドデータ再現加振 ・低周波数／磁場／温度／音響試験機など各種試験と組み合わせ可能 ※数値はそれぞれ最大値です。装置構成、試験内容に依存します。 【用途例１　MEMSセンサー開発】 350kHzの超高周波数まで対応し、性能評価試験をはじめ...

メーカー・取り扱い企業： エフ・アイ・ティー・パシフィック株式会社