【インサーキットテストの基礎知識】治具式とフライング式の違いとは

＊資料無料進展中　今更聞けないインサーキットテスタの基本について知らな…

インサーキットテスト（プリント基板の電気検査）のプロービング方法には、治具式とフライングプローブ式とがあります。 「インサーキットテスタの基礎知識」資料をダウンロードし、ご覧ください。 治具式 コンタクトプローブが埋め込まれた検査治具を検査基板に接触、全てのプローブを同...

メーカー・取り扱い企業： タカヤ株式会社

【導入事例】通信インフラ・サーバー向け大型基板の検査

通信インフラ・サーバー向け大型基板の検査に、タカヤのフライングプローブ…

通信インフラやサーバー向けの大型基板検査では、治具レス検査が特に有効です。基板サイズが大きくても効率的に対応でき、柔軟性と精度を兼ね備えた検査手法が品質向上とコスト削減に寄与します。これにより、通信インフラやサーバー分野での信頼性確保に大きく貢献し...

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【導入事例】航空宇宙・防衛分野向け基板検査

航空宇宙・防衛分野向け基板検査に、タカヤのフライングプローブテスタを活…

航空宇宙・防衛分野では、高い品質基準が求められる中、フライングプローブテスタを活用することで、少量生産基板の検査が効率化されます。治具不要の柔軟な検査フローにより、短納期対応やトレーサビリティの確保が可能になり、品質向上とコスト削減を両立します。 【導入実績】 ・少量生産基板の全数検査を実施し、高信頼性を求められる製品の品質保証...

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【導入事例】EMS企業における電気検査の重要性

EMS企業様が抱える課題をタカヤのフライングプローブテスタが解決します…

業様への導入実績】 ・基板の試作段階から電気的な検査を行うことで、量産前の品質保証を実現。 ・基板設計や部品選定の最適化を早期に行い、後工程での不良削減に寄与。 【お客様がかかえられていた課題】 治具の再作成コスト: 治具式テスタでは、試作や設計変更のたびに専用の治具を再作成する必要がある。 設計変更のたびに治具の修正が求められ、コストや時間が大幅に増加していた。 設計変更への対応力不足: 従...

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【インサーキットテストの基礎知識】フライング式のメリットとは？

今更聞けないインサーキットテスタの基本について知らない方必見です！！

フライングプローブテスタを用いてのインサーキットテストでは、 従来の治具式テスタには無い大きなメリットが【　5つ　】あります。 そのメリットとは・・・・ 1， 検査基板ごとに、毎回カメラで位置を確認しコンタクト位置を補正します セット位置調整に手を煩わせ...

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【導入事例】医療機器向け大型基板の検査

医療機器向け大型基板の検査（バウンダリースキャンとの連携）に、タカヤの…

キャン技術の併用で、物理プロービングと非接触スキャンの特性を活かし、大型基板全域を効率的にカバー。 コンポーネントの高さや多層基板の内部特性に左右されない柔軟な検査を実現。 コスト削減と効率化: 治具不要のAPTとバウンダリースキャンの連携により、治具製作・保管コストを削減。 AOIでの視覚的検査とAPT/バウンダリースキャンの電気特性検査を分業することで検査効率を向上。...

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【導入事例】半導体製造装置における高密度基板検査

半導体製造装置における高密度基板検査工程に、タカヤのフライングプローブ…

0384-1規格（固定コンデンサの性能基準）に準拠した検査を可能とし、国際基準に対応した製品品質を保証。 【お客様の課題】 部品間ピッチの狭さ: 高密度基板では部品間のスペースが極めて狭く、従来の治具式検査では物理的な接触が困難。 特に0.2mm以下の狭ピッチ部分や高ピン数の部品で、検査精度が低下する可能性。 規格対応の必要性: IEC60384-1に代表される国際規格への対応が求められる中、...

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フライングプローブテスタによるバウンダリスキャンテストとの連携

ICTとBSTの相互補完によって、新たな価値を創造します。

ンダリスキャンテストは、LSIピン間の相互接続検査・FPGA等へのオンボードプログラミングが短時間で行えますが、バウンダリスキャン規格に準拠しているIC周辺のデジタル回路のみ検査可能で、接続に専用の治具を要するという課題もあります。 タカヤ株式会社では、バウンダリスキャンテストで必要となる4～5本のスキャン対応ピンと計測器を繋ぐ治具の代わりに、フライングプローブを用いる技術を保有しております。こ...

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量産基板の電気検査（ICT）に最適！！インラインモデルのご紹介

タカヤAPTシリーズは、業界トップクラスの超高速インサーキットテストが…

出をフライングプローブテスタが受け持つなど、各々の特徴を活かすことで、虚報排除・検査能力の向上・スピードアップを実現されている例もございます。 量産基板の全数電気検査（ICT）でお困りの際は、治具レスでライン切り替えも容易なタカヤのAPTシリーズを是非、ご検討ください。 ...

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インサーキットテスト最速！フライングプローブテスタの活用事例

タカヤAPTシリーズは、業界トップクラスの超高速インサーキットテストが…

■量産品の検査 ローダー/アンローダーと接続し、大ロットでも自動化、無人検査が可能です。 　　　　　　　　　　 ■多品種少量基板の検査 専用治具製作コスト不要です。ファンクションテストでは不良個所の特定が難しいですが、インサーキットテストであれば特定可能です。 ■試作基板の検査 設計変更に即応できます。基板に電圧を印加し、回路動作（...

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インサーキットテスト最速！フライングプローブテスタの導入効果

タカヤAPTシリーズは、業界トップクラスの超高速インサーキットテストが…

ション検査では検出が難しい不良を検出し、テスト結果と集計データから実装工程全体の品質を改善できます。微小チップ部品やファインピッチIC/コネクタにもピンコンタクト可能ですので、高密度基板の検査でも、治具検査に比べて検出率が大幅に向上します。 ■ 検査コスト削減 高額な専用検査治具を必要とせず、試作基板や少量/中量生産基板において大幅に検査コストを削減します。設計変更があった際にも、治具の改...

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