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簡単操作、非接触、迅速、高分解能、低価格のナノ表面粗さ、段差形状測定装…
。 広範囲の計測が可能で多点計測や大型試料にも適用可能。 <主な特長> 1)低価格で計測時間の大幅短縮 2)高分解能 高さ方向0.1ナノでAFMと互換性保持 3)試料対象物への前処理や真空不要の簡単計測で防振台も不要 4)広範囲計測可能 5)光ヘテロダイン干渉計測で外部からの振動を相殺 等 ...
メーカー・取り扱い企業: 有限会社シスコム(SysCom)
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