• 【分析事例】粘着シートによる電子部品の汚染評価 製品画像

    【分析事例】粘着シートによる電子部品の汚染評価

    有機汚染の定性・定量・分布を複数手法の組み合わせで評価

    半導体デバイスの製造工程では、ダイシング用テープなど様々な粘着シートが使用されます。粘着シートは異物・汚染の原因となることがあります。そこで、本事例ではTOF-SIMS・SWA-GC/MSを用いて複合 的に評価した結果をご紹介します。TOF-SIMSでは、粘着シート各材料の定性を行うことで、異物・汚染がどの粘着シートに起因するのか、また粘着シートのどの層に起因するのか同定が可能です。またSWA-...

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  • 【分析事例】GaN系LED構造中MgのSSDP-SIMS分析 製品画像

    【分析事例】GaN系LED構造中MgのSSDP-SIMS分析

    裏面側からGaN系LED構造中の不純物プロファイルを取得可能

    GaN系LEDにおいて、ドーパント元素であるMgが活性層まで拡散することにより発光効率が低下すると言われております。 本資料ではGaN系LED構造試料において、表面側及びサファイア基板側(裏面側)からSIMS分析を行い、Mgの深さ方向濃度分布を評価した事例をご紹介します。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

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  • 【分析事例】有機膜材料の配向角評価 製品画像

    【分析事例】有機膜材料の配向角評価

    XAFS:X線吸収微細構造

    配向性有機膜である自己組織化単分子膜(SAM膜)は表面の濡れ性や吸着性といった膜の機能・物性が配向性・配向角によって変化します。 放射光を用いたXAFSでは、ピーク強度のX線入射角依存性を解析することで有機膜材料の配向性・配向角の評価を行うことが可能です。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

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  • 【分析事例】セラミックスのぬれ性原因評価 製品画像

    【分析事例】セラミックスのぬれ性原因評価

    無機材料の親水・撥水箇所に特徴的な有機物の分析ができます

    セラミックスは日用品から電子部品まで幅広く利用されている無機化合物材料です。耐熱性・耐薬品性などの特徴を有しており、表面状態の評価をすることはセラミックスの機能を活かすために重要です。 本資料では、表面が撥水加工されているZr酸化物セラミックス材料において、撥水性低下の原因をTOF-SIMSを用いて評価した事例を紹介します。 測定法:TOF-SIMS 製品分野:製造装置・部品 分析目的:組...

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  • 【分析事例】リチウムイオン二次電池バインダの成分分析|受託分析 製品画像

    【分析事例】リチウムイオン二次電池バインダの成分分析|受託分析

    熱分解GC/MSによる有機成分の同定

    リチウムイオン二次電池は、金属、無機から有機物質、固体から液体と多種多様な材料が使用されています。各材料の物性や組合せはデバイスの特性・信頼性に大きく反映されますので、材料の正確な解析・評価が必要となります。今回、リチウムイオン二次電池の負極を熱分解GC/MS(pyro-GC/MS)で測定した結果、本バインダ材料はSBR(スチレンブタジエンラテックス)系であることが分かりました。この他にバインダの...

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  • 【分析事例】GCによる窒素化合物の高感度分析 製品画像

    【分析事例】GCによる窒素化合物の高感度分析

    GC/MS/NPD(窒素リン検出器)を用いた窒素化合物の分析

    窒素化合物を含む試料をGCで分析する際にMS(質量分析計)とNPD(窒素リン検出器)を同時測定することによりMSではピークとして現れない成分をNPDで検出し、その保持時間からMSスペクトルを取得して成分を定性することが可能です。本事例では含窒素化合物であるトリメチルアミンが微量に含まれる試料をGC/MS/NPDで測定しました。MSではベースラインに埋もれていたピークがNPDで確認されたため、同一保...

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  • 【分析事例】TDSによるステンレス中水素脱離量の分析 製品画像

    【分析事例】TDSによるステンレス中水素脱離量の分析

    TDS(昇温脱離ガス分析法)で金属中水素の脱離量の評価が可能です

    鋼材など多くの金属材料は、常温で結晶格子内を拡散する拡散性水素により劣化(水素脆化)することが知られています。今回は水素を添加したステンレス板(SUS316L)について、TDSで水素の脱離量を評価した例を示します。150℃付近の低温域で拡散性水素と考えられる脱ガスピークが確認されました。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

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  • 【分析事例】有機EL(OLED)の材料構造評価 製品画像

    【分析事例】有機EL(OLED)の材料構造評価

    1画素ごと、各層ごとに成分を同定することが可能です

    今後需要が拡大する有機ELの信頼性向上のため、詳細な構造解析や状態分析、劣化原因の特定がさらに重要となります。TOF-SIMSとLC/MSを用い、層構造や材料を評価した事例をご紹介します。 TOF-SIMSにより、層構造と各層の成分情報を評価できました。TOF-SIMSで明らかになった質量Eの成分についてLC/MSおよび蛍光検出器による分析を行い、発光波長の評価と成分の構造を把握することができま...

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  • 【分析事例】リチウムイオン二次電池内部の非破壊観察 製品画像

    【分析事例】リチウムイオン二次電池内部の非破壊観察

    X線CTによる観察事例

    リチウムイオン二次電池はスマートフォン・デジタルカメラなど、幅広く使われている電池です。リチウムイオン二次電池は充放電を繰り返すことで劣化し、電池が膨らむ現象が発生することがあります。この現象が発生した電池を調査する場合、内部に溜まったガスや電解液等による反応が懸念され、加工には危険を伴うことから非破壊で内部の構造を確認する必要があります。 本事例では充放電を繰り返したリチウムイオン二次電池の...

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  • 【分析事例】指定外酸化防止剤(TBHQ)のLC/MS/MS分析 製品画像

    【分析事例】指定外酸化防止剤(TBHQ)のLC/MS/MS分析

    高い回収率で低濃度の食品中TBHQ定量分析を実現

    TBHQ(tert-ブチルヒドロキノン)は米国・中国などで酸化防止剤として食品に添加されている化合物です。しかし、日本ではTBHQを含む食品の輸入・販売が認められていません。そのため、輸入食品にTBHQが含まれていることがあり、国内で検出された場合は自主回収などの措置がとられます。本資料ではさまざまな食品に0.1ppmのTBHQを添加し、LC/MS/MSで測定した事例を紹介します。いずれの食品でも...

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  • 【分析事例】セラミックス材料に含まれる微量金属の価数評価 製品画像

    【分析事例】セラミックス材料に含まれる微量金属の価数評価

    ppmオーダーの微量金属も評価可能です

    各種材料の特性を設計・制御するにあたって、母材に微量含まれている元素の種類や量、またそれらの存在状態を明らかにするのは非常に重要です。このうち元素の種類や量に関してはSIMS(二次イオン質量分析法)やICP-MS(誘導結合プラズマ質量分析法)などによって評価可能ですが、価数・化学結合状態などといった存在状態の評価には放射光を用いたXAFS(X線吸収微細構造)測定が有効です。本資料では測定例としてセ...

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  • 【分析事例】XAFSによるシリコン酸化膜評価 製品画像

    【分析事例】XAFSによるシリコン酸化膜評価

    シリコン周囲の局所構造解析、中間酸化物の定量、バルク・界面の評価

    シリコン酸化膜はMOSデバイスやリチウムイオン二次電池の負極材料として広く利用されていますが、中間酸化物の有無や界面での結合状態がデバイス特性に大きな影響を与えることが知られています。 放射光を用いたXAFS測定では試料表面から数十nmの深さの情報を検出するため、非破壊でバルク・界面における構造および結合状態を解析することが可能です。 本資料ではXAFSを用いてシリコン酸化膜の中間酸化物の有無...

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  • 【分析事例】毛根の成分分析 製品画像

    【分析事例】毛根の成分分析

    TOF-SIMSを用いた生体成分のコレステロール・脂肪酸の可視化

    人の毛髪(抜け毛と引き抜いたもの)の毛根部をSiウェハに押し付け、転写された成分についてイメージング測定(面分析)を行いました。抜け毛は毛根の先端にのみ、■K, ●リン脂質が強い傾向が見られます。また、毛根部全体には、■CnHmCOOH(n=17~31)の脂肪酸(人の皮脂由来)、●角栓由来のアミド系成分、◆質量が500~700の含窒素有機酸、◆質量が800付近の有機物が凝集していると考えられますが...

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  • 【分析事例】有機ふっ素化合物(PFOS・PFOA等)の分析 製品画像

    【分析事例】有機ふっ素化合物(PFOS・PFOA等)の分析

    製品中・排水・環境水の分析に対応可能です

    有機ふっ素化合物は、界面活性剤、金属めっき処理剤等様々な用途で使用されています。そのうち、ペルフルオロオクタンスルホン酸(PFOS)は、製造・使用・輸出入を制限する残留性有機汚染物質に関するストックホルム条約(POPs条約)の対象物質です。さらに、ペルフルオロオクタン酸(PFOA)についても規制物質への追加が検討されています。PFOAやPFOS以外にも、炭素鎖数が異なるペルフルオロアルキルカルボン...

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  • SIMS分析データの再現性 製品画像

    SIMS分析データの再現性

    再現性の高い不純物量評価が可能です

    半導体デバイスの製造において、ドーパント等の不純物の制御は重要な工程となります。 イオン注入に着目した場合、僅かな差が品質や性能に影響を及ぼすため、正確な制御が必要となります。SIMS分析の高い再現性は、それらの開発・維持管理に最適です。...詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。 ...

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