• 技術情報誌 201904-02 セルロースナノファイバー構造解析 製品画像

    技術情報誌 201904-02 セルロースナノファイバー構造解析

    技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

    【要旨】 CNFを扱う研究開発のうち、ほぼすべての材料分野、研究フェーズで電子顕微鏡を用いた観察は必要な評価となっている。特にポリマー中に分散するCNFをTEM観察するためには、これまで高分子材料のTEM試料作製を実施する上で不可欠であった「電子染色」の技法を駆使する必要がある。今回、CNFを用いた複合材料の形態観察事例を紹介すると共に、CNF自体の観察事例、構造解析例として13C核 固体NMR...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社東レリサーチセンター

  • 技術情報誌 202201-01 X線CTを用いた微小液滴 製品画像

    技術情報誌 202201-01 X線CTを用いた微小液滴

    X線顕微鏡は、試料の内部構造をµmオーダーの高空間分解能で非破壊観察で…

    技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品質管理等のお役に立つ分析技術の最新情報です。 【要旨】 X線顕微鏡は、試料の内部構造をµmオーダーの高空間分解能で非破壊観察できる装置であり、CT(コンピュータートモグラフィ)測定することで三次元形態の観察も可能である。特に電子顕微鏡では困難な、液体と材料の接触状態や、空孔を有する材料内部における液体の存在状態などの評価...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社東レリサーチセンター

  • 技術情報誌 202001-02 酸化ガリウムの結晶構造解析 製品画像

    技術情報誌 202001-02 酸化ガリウムの結晶構造解析

    技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

    【要旨】 酸化ガリウム(Ga2O3)は次世代パワー半導体材料として注目を集めており、近年研究が盛んになってきている。半導体デバイスの信頼性、特性改善にはプロセス技術の最適化が必要であり、その評価方法が重要となる。本稿ではエピタキシャル膜の品質評価に必要な結晶構造解析と、デバイス特性への影響が大きいイオン注入プロセスにおける不純物、欠陥、キャリア濃度解析を行った事例を紹介する。 【目次】 1....

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  • 技術情報誌 201901-01 Ga2O3膜の分析評価技術 製品画像

    技術情報誌 201901-01 Ga2O3膜の分析評価技術

    技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

    【要旨】 SiCやGaNより大きなバンドギャップを持つ酸化ガリウム(Ga2O3)は新たなパワーデバイス材料として注目されている。デバイス応用に向けた薄膜成長技術の発展とともに、Ga2O3薄膜の分析評価技術の重要性は益々高まると考えられる。本稿では、サファイア基板上に作製したGa2O3膜の結晶構造解析、および不純物、欠陥評価を行った事例について紹介する。 【目次】 1.はじめに 2.試料 ...

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