表面改質技術『COT処理』※検証動画公開

PR医薬品・食品の付着防止と滑り性改善に。皮膜剥落による異物混入リスクがゼ…

『COT処理』は、独自の表面改質加工により、母材の表面に滑らかで微細な凹凸や、 マルチスケール構造を形成し、滑り性や離型性、洗浄性を高める技術です。 基材表面を改質する技術のため、皮膜剥落による異物混入リスクがなく、 用途に合わせて表面構造を高精度に制御でき、複雑形状品にも施工可能です。 金属、樹脂、セラミック、ガラスなど様々な素材に施工でき、 熱による変形・変色が懸念される薄板...

メーカー・取り扱い企業： 千代田交易株式会社

非接触型ディスペンサー dragonfly discovery

PR高い汎用性、高い粘性も問題なし ポジティブディスプレイスメント式非接…

dragonfly discoveryは、ポジティブディスプレイスメント方式とディスポーザブルシリンジの両方を採用した新しい非接触型ディスペンサーです。 汎用性の高さ、使いやすいソフトウェアで、１台で様々なアッセイ・研究に対応します。 ●ポジティブディスプレイスメント方式 ピストンが液体を押し出す方式です。粘性・表面張力など様々な溶液に対し、液体ごとのクラス設定なしで正確な分注が行えます...

メーカー・取り扱い企業： SPT Labtech Japan株式会社

フーリエ変換近赤外分光計(FT-NIR)『TANGO』

簡単、迅速、確実！様々な分野において時間的効率と費用対効果の高い分析を…

『TANGO』は、高精度、堅牢、簡単な操作性など、品質管理や生産管理の 現場において分析装置に求められる全てを満たす、FT-NIRシステムです。 試料のハンドリングにおける時間を短縮し、操作ミスも防止。試料の ...

メーカー・取り扱い企業： ブルカージャパン株式会社 オプティクス事業部

フーリエ変換近赤外分光計（FT-NIR）『MPA II』

液体・固体・半固体など様々な試料の測定に対応！迅速かつ高精度な分析が可…

『MPA II』は、液体・固体・粉体・錠剤・カプセルなど様々な試料の 定性・定量分析を1台で行えるフーリエ変換近赤外分光計（FT-NIR）です。 前処理なく短時間（計測時間1分以内）で高精度な分析が行え、生産性向上に寄与します。 多くの光学系オプションやサンプリングアクセサリをご用意しております。 品質管理やメソッド開発等、多目的に使用いただける分光計です。 サンプリングア...

メーカー・取り扱い企業： ブルカージャパン株式会社 オプティクス事業部

FT-NIR プロセス分光計『MATRIX-F II』

プロセス用途の要求を満たすFT-NIRシステム！過酷な環境にも設置可能…

『MATRIX-F II』は、プロセスアプリケーション専用のフーリエ変換 近赤外分光計（FT-NIR）です。 革新的な設計により、高精度で一貫した分析結果、ダウンタイムの短縮、 分析メソッドの直接的な移設を実現するとともに、新たなアプリケーションの 可能性を提供。 業界標準の通信プロトコルを完全にサポートしており、上位シ...

メーカー・取り扱い企業： ブルカージャパン株式会社 オプティクス事業部

オンライン用近赤外分析計（FT-NIR） MATRIX-F II

非破壊分析・品質管理に必需品となった近赤外分析計（FT-NIR）、プロ…

【特徴】 ○ ネットワーク対応・ブラウザオペレーション ○ 独自のケモメトリクスアルゴリズムにより迅速・高精度の定性・定量分析が可能。 ○ 21CFR part11対応 ○ バリデーション対応、自己診断機能内蔵 ○ オンライン・インライン・アットラインでの測定に対応 ● 詳しくはお問い合わせ、...

メーカー・取り扱い企業： ブルカージャパン株式会社 オプティクス事業部