乾湿粉体原料　連続式『混練・造粒機』※納入事例集進呈！

PR不等速２軸に各々配列の撹拌羽根で、付着性が高い対象物も効率よく混練・造…

　新日南『混練・造粒機』は、2500台以上の実績がある「ダウミキサー」ノウハウをもとに、製品化しました。 　 　混練機『ダウミキサーPX型』は、回転速度が異なる２軸（不等速2軸）にらせん状配列の1条/2条巻の多様なパドル構成（複数特許取得）で、セルフクリーニング効果が常に作用して付着性が高い対象物でも効率よい混練効果と圧密効果が得られます。また、この作用で等速2軸式では避けられない、繰返し応力...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社新日南 京浜事業所

乾湿原料連続式　粉体混合機「ダウミキサーPX」※納入事例集進呈！

PR粉体の乾湿混合｜加湿混練｜造粒前混練など幅広い用途に好適！難易度が高い…

　「ダウミキサー」は独自の不等速2軸機構の採用により、 セルフクリーニングで固着成長を抑制機能（メンテ性）や、2軸間差速で高い均一分散性能（生産性） を兼ね備えており、粘性が高い湿潤原料でも効率よく混合・混練が可能です。 　『ダウミキサーPX型』は、2500台以上の実績がある「ダウミキサー」ノウハウをもとに、 不等速2軸機構に配列する2条巻きの正逆パドルで高度な混練効果と圧密効果が得ら...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社新日南 京浜事業所

高機能型光照射・受光計測光学系『M-Scope type I』

複数の光計測を実現！多目的な光応用計測用に設計された高機能型光計測用光…

『M-Scope type I』は、光照射計測・受光計測・光ビームプロファイル計測 等の多目的な光応用計測用に設計された高機能型光計測用光学系です。 光計測用光ファイバポートと画像処理・解析用画像検出器用ポートを搭載し、 複数の光計測を実現できるほか、目的に応じたさまざまな光学計測用 コンポーネントを増設可能で、計測目的や計測項目、計測タクト等、使用目的 にあわせた光学計測ユニットを...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社

光ビーム計測・解析装置『M-Scope type HS』

【※デモ測定対応可能】ビーム形状の出射方向の変化を測定することもできま…

『M-Scope type HS』は、1～10Wクラス高出力レーザのNFP・ 発光ビームプロファイル計測用光学系です。 計測対象サンプルから出射された光束は、対物レンズを通過後、 2段ビームサンプラーにて約99.99%程度に減光、結像レンズにて 2次元画像検出器に結像する方式を採用しています。 これにより、さまざまな対物レンズ倍率下で高出力レーザの 発光ビームプロファイル・ビー...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社

ハイパワーレーザ用FFP計測光学系M-Scope type HF

【※デモ測定対応可能】高出力レーザのパワーを測定可能な適正レベルまで減…

『M-Scope type HF』は、1～10Wクラス高出力レーザの 放射角度分布(ファーフィールドパターン)計測用光学系です。 専用設計のハイパワーレーザ対応FFP計測光学系＋2次元画像検出器・ 画像処理方式の組合せを採用。 高出力発光素子や発光モジュールからの出射ビームの放射角度分布 (FFP:ファーフィールドパターン)をリアルタイムで取得・測定可能です。 【特長】 ...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社

高出力レーザ用FFP計測装置

～10Wクラス高出力レーザの放射角度分布計測に対応したFFP計測装置

『高出力レーザ用FFP計測装置』は、～10Wクラス高出力レーザの 放射角度分布（ファーフィールドパターン）を高精度で迅速に測定する装置です。 専用設計の高出力レーザ用FFP計測光学系M-Scope type HFと2次元画像検出器・ 画像処理方式の組合せで、高出力発光素子や発光モジュールからの出射ビームの 放射角度分布（FFP：ファーフィールドパターン）をリアルタイムで取得・測定可能で...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社

システム『M-Scope typeS／NFP計測システム』

ビームスポット観察から高度な光学特性解析まで対応可能！

『M-Scope typeS／NFP計測システム』は、ビームスポット観察から 光デバイスの高度な光学特性解析まで対応可能な、高機能光ビーム観察・ 計測光学系M-Scope typeSとその専用処理システムです。 最高200倍の光学倍率（対物レンズ100倍使用時）で、微小スポットの観察・ 解析にも対応しています。 独自開発の高機能光ビーム解析ソフトウェアOptometricsにより...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社

ハイパワーレーザ用NFP計測光学系『M-Scope typeH』

5Wクラスの高出力レーザ等の発光ビームプロファイル計測用のNFP計測光…

『M-Scope typeH』は、5Wクラスの高出力レーザ等の発光ビームプロファイル 計測用のNFP計測光学系です。 計測対象サンプルから出射された光束をビームサンプラーにて約5%程度を 反射させ、その反射光を対物レンズ・結像レンズにて2次元画像検出器に結像 する方式を採用しています。 これにより、高出力レーザの発光ビームプロファイル・ビーム形状を正確に 計測することができ、ま...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社