断層画像撮影システム【SS-OCT】

HIGH SPEED SWEPT SOURCE を用いたプローブ型OC…

自社設計製造で、ご要望に合った装置構成とソフトウェア開発により、ベストなシステムをご提供します。 【特長】 ■ 近赤外線を利用、Ｘ線による被ばくの心配無く、非接触で高速測定が可能 ■ 被ばく対策、線源管理や超音波用ジェル使用などの煩雑さが不要 ■ 計測可能深さ：5～10nm、分解能：4～13μm (深さ方向) ■ リアルタイム2D画像の観測で位置決め、シームレスに3D画像計測へ 　...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社システムズエンジニアリング

DUV分光放射照度計【GL SPECTIS 5.0 Touch】

DUV-VIS-NIR（200～1050nm）の広波長領域をカバーする…

『GL SPECTIS 5.0touch』は、スマートタッチスクリーンを備えた ポータブルの分光器です。 実験室レベルのハイグレードな測定が可能。 また、広い波長範囲により、光生物学的安全性（EN 62471）や SSL製品の測定（IESNA LM-79-08, CIE 025/E:2015）など、多くの規格に 適合した測定が行えます。 【特長】 ■200 - 1050n...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社システムズエンジニアリング