• カット野菜用異物除去装置『UDW-Fseries』 製品画像

    カット野菜用異物除去装置『UDW-Fseries』

    PR肉眼では見つけづらい同色の異物もピンポイントで検出・除去。機器選定のフ…

    『UDW-Fseries』は、カット野菜を特殊赤外線カメラにより上下両面から検査し、 検出した異物をイジェクターでピンポイントに除去する装置です。 肉眼では見つけづらい同色の異物が混入している場合にも、高精度に検出・除去可能。 変色した葉の検出もできる、色彩検出機能が付いたタイプもラインアップしています。 ★他にも、様々な検出方式に対応した食品用異物除去装置を提供しています。  ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社服部製作所

  • 熱拡散率測定装置『LFA 457 MicroFlash』 製品画像

    熱拡散率測定装置『LFA 457 MicroFlash』

    多層構造試料に対応!レーザーフラッシュ法に基づいた熱拡散率測定装置

    『LFA 457 MicroFlash』は、熱拡散率や熱伝導率などの材料の熱物性を 測定できる装置です。 当装置はセラミックス、合金、複合材料、多層材料などの測定に最適な 非接触型の測定法であるレーザーフラッシュ法に基づいて設計されています。 温度範囲は-125℃~1100℃の測定に対応。 標準試料物質の熱拡散率は±3%、比熱容量においてもほとんどの物質で ±5%以内と高精度な...

    メーカー・取り扱い企業: ネッチ・ジャパン株式会社

  • ゼーベック係数・電気伝導率同時測定装置 製品画像

    ゼーベック係数・電気伝導率同時測定装置

    最高測定温度1100℃!試料形状の制約が大幅に軽減!迅速・正確な評価

    『SBA 458 Nemesis』は、1100℃までのゼーベック係数と電気伝導率(1/Ωm) を全く同一の条件で測定することができる測定装置です。 正方形をはじめ、矩形、円形、帯状などの多様な試料形状に対応。 試料の交換は治具なしで迅速かつ簡単に行うことができます。 また、ダブルヒーターにより、各測定温度ステップにおいて任意の温度勾配を 設定可能。測定が適切かどうかは、測定前、測...

    メーカー・取り扱い企業: ネッチ・ジャパン株式会社

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