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赤外イメージング、分光測定が可能 10nmの空間分解能を実現します
【特長】 ■attocube systems社 特許 バックグラウンドノイズ除去技術 ■高空間分解能10nmでのイメージングと分光測定を実現 ■高い再現性と高感度検出を可能にする専用AFMを開発 ■AFM測定に適したサンプル準備でバルク断面の測定が可能 ■サンプルの薄片化不要! 詳しくはお問い合わせください。...
メーカー・取り扱い企業: 日本カンタム・デザイン株式会社
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弊社が得意とする【半導体分野向けソリューション】をお客様に合わせてご提…
【表面検査】 ◆原子間力走査型電子顕微鏡(AFM&SEM in situ測定) by Quantum Design North America ◇原子間力顕微鏡(AFM) by Nanosurf ◆散乱型近接場光赤外顕微鏡(Nano-FTI...
メーカー・取り扱い企業: 日本カンタム・デザイン株式会社
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