ナノインデンテーションテスタによる粒子の破壊・硬さ試験

微小荷重による微粒子の押しつぶし試験

センサー：超高分解能静電容量センサーにより、「真の押し込み深さ」と「荷重制御」モードが可能。 -超高分解能と超低ノイズフロア。 -高品質光学ビデオマイクロスコープやオプションの原子間力顕微鏡(AFM)により位置を完全に同期。 -オプションの加熱ステージにより200℃までの高温測定が可能。 ヘッドと、光学顕微鏡及びAFM対物レンズの組み合わせにより、高いフレキシビリティーと使い勝手の良...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アントンパール・ジャパン