• 少量生産に好適!『卓上型上面用ラベラー』※丸ボトル用ラベラーも有 製品画像

    少量生産に好適!『卓上型上面用ラベラー』※丸ボトル用ラベラーも有

    PR貼り付け速度は最大16m/分、電気消費量は400VA!当社の2種類のラ…

    当社で取り扱っている、卓上型上面用ラベラー『MODEL ELF-20』について ご紹介いたします。 操作や型替えがとても簡単で、少量生産に好適。 ホットスタンププリンターと透明ラベルセンサーの2つの オプションがございます。 また、丸ボトル用の卓上型ラベラー「MODEL ELF-50」もご用意しております。 【MODEL ELF-20の仕様(抜粋)】 ■電源:AC100V、50/60Hz、単...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アキュレックス 本社、大阪営業所

  • 高機能型光照射・受光計測光学系『M-Scope type I』 製品画像

    高機能型光照射・受光計測光学系『M-Scope type I』

    複数の光計測を実現!多目的な光応用計測用に設計された高機能型光計測用光…

    『M-Scope type I』は、光照射計測・受光計測・光ビームプロファイル計測 等の多目的な光応用計測用に設計された高機能型光計測用光学系です。 光計測用光ファイバポートと画像処理・解析用画像検出器用ポートを搭載し、 複数の光計測を実現できるほか、目的に応じたさまざまな光学計測用 コンポーネントを増設可能で、計測目的や計測項目、計測タクト等、使用目的 にあわせた光学計測ユニットを...

    メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社

  • ハイパワーレーザ用NFP計測光学系『M-Scope typeH』 製品画像

    ハイパワーレーザ用NFP計測光学系『M-Scope typeH』

    5Wクラスの高出力レーザ等の発光ビームプロファイル計測用のNFP計測光…

    『M-Scope typeH』は、5Wクラスの高出力レーザ等の発光ビームプロファイル 計測用のNFP計測光学系です。 計測対象サンプルから出射された光束をビームサンプラーにて約5%程度を 反射させ、その反射光を対物レンズ・結像レンズにて2次元画像検出器に結像 する方式を採用しています。 これにより、高出力レーザの発光ビームプロファイル・ビーム形状を正確に 計測することができ、ま...

    メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社

  • 光計測・検査装置『光ビームNFP計測装置』 製品画像

    光計測・検査装置『光ビームNFP計測装置』

    光ビームプロファイル観察・計測から光学特性解析まで幅広く対応可能!

    『光ビームNFP計測装置』は、発光素子・光ファイバ・光導波路・各種光 モジュールの光ビームプロファイル観察・計測から光学特性解析まで幅広く 対応可能な汎用光ビームプロファイラシステムです。 光学系は当社の高機能NFP計測光学系(簡易型NFP計測光学系も使用可能) を使用し、各種光検出器・光ビーム解析モジュールAP013との組み合わせ により、さまざまな光デバイスのNFP計測・光ビーム...

    メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社

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