• 光計測・検査装置『光ビームNFP計測装置』 製品画像

    光計測・検査装置『光ビームNFP計測装置』

    光ビームプロファイル観察・計測から光学特性解析まで幅広く対応可能!

    『光ビームNFP計測装置』は、発光素子・光ファイバ・光導波路・各種光 モジュールの光ビームプロファイル観察・計測から光学特性解析まで幅広く 対応可能な汎用光ビームプロファイラシステムです。 光学系は当社...

    メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社

  • ハイパワーレーザ用NFP計測光学系『M-Scope typeH』 製品画像

    ハイパワーレーザ用NFP計測光学系『M-Scope typeH』

    5Wクラスの高出力レーザ等の発光ビームプロファイル計測用のNFP計測光…

    『M-Scope typeH』は、5Wクラスの高出力レーザ等の発光ビームプロファイル 計測用のNFP計測光学系です。 計測対象サンプルから出射された光束をビームサンプラーにて約5%程度を 反射させ、その反射光を対物レンズ・結像レンズにて2次元画像検出器に結像 する方式を採用しています。...

    メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社

  • システム『M-Scope typeS/NFP計測システム』 製品画像

    システム『M-Scope typeS/NFP計測システム』

    ビームスポット観察から高度な光学特性解析まで対応可能!

    『M-Scope typeS/NFP計測システム』は、ビームスポット観察から 光デバイスの高度な光学特性解析まで対応可能な、高機能光ビーム観察・ 計測光学系M-Scope typeSとその専用処理システムです。 最高200...

    メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社

  • 光ビーム計測・解析装置『M-Scope type HS』 製品画像

    光ビーム計測・解析装置『M-Scope type HS』

    【※デモ測定対応可能】ビーム形状の出射方向の変化を測定することもできま…

    『M-Scope type HS』は、1~10Wクラス高出力レーザのNFP・ 発光ビームプロファイル計測用光学系です。 計測対象サンプルから出射された光束は、対物レンズを通過後、 2段ビームサンプラーにて約99.99%程度に減光、結像レンズにて 2次元画像検...

    メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社

  • シナジーオプトシステムズ株式会社 総合カタログ 製品画像

    シナジーオプトシステムズ株式会社 総合カタログ

    各種発光素子・光学モジュールの発光ビーム観察などに最適な製品を掲載!

    密機器の開発製造・販売を行うシナジーオプトシステムズ株式会社の 「光ビーム観察・計測光学系光ビーム測定システム」の総合カタログです。 光ビーム観察・計測光学系「M-Scope typeS/NFP計測システム」をはじめ、 その応用システムである「エンサークルドフラックス計測システム」など、 可視・光通信用近赤外レーザダイオードや各種光学モジュールのビーム観察・ 評価・組立調整に最適な...

    メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社

  • 応用システム『エンサークルドフラックス計測システム』 製品画像

    応用システム『エンサークルドフラックス計測システム』

    モード伝播を迅速に評価・測定するシステム!

    『エンサークルドフラックス計測システム』は、エンサークルドフラックス・ 結合パワー計数等ファイバの性能評価において特に重要なモード分布の解析が 可能なシステムです。 光ファイバのNFP(ニアフィールドパターン)を解析することにより、 マルチモードファイバのモード伝播を迅速に評価・測定します。 また、オプションにより、当社製限定空励振光学系との組み合わせにより、 照射N...

    メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社

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