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水銀プローブにより電極の形成が不要!R&Dにおける開発時間の短縮、Lo…
【主な測定・評価項目】 ■化膜中の電荷の評価(VFB) ■界面準位測定(Dit) ■エピ層の抵抗率測定(ρ) ■低ドースイオン注入の部分的ドース量の評価(PID) ■ライフタイム測定(τg) ■高/低誘電材料の誘電率測定(ε) ■絶縁膜の信頼性試験(TZDB、TDDB) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 ...
メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社
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