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走査型電子顕微鏡(FE-SEM)による表面観察を受託いたします:分解能…
【主要設備】 ・設備(機械名):走査型電子顕微鏡(FE-SEM) S-4000(日立) ・主な仕様 倍率: ×100~300,000倍 (~100,000までは保証範囲) 試料台サイズ: 15mm(径) 加速電圧: 0.5~30kV ・機器の...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社魁半導体
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