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    モデル 2010/M プリズム カプラー

    薄膜、バルク材の 複屈折 (x、y、z)を測定することができます。

    度 ±0.00005) へ向上 • バルク、基板、または液体材料の複屈折/異方性などの高精度屈折率測定 • 薄膜または拡散光導波路 SPR センサー構造の高速(20秒)特性解析 • 屈折率 VS 波長 分散値が簡易に測定可能 • 屈折率 VS 温度 (dn/dT) および導波路損失測定用オプション • 幅広い屈折率測定レンジ (1.0 ~ 3.35) ※詳しくはお問い合わせ下さい...

    メーカー・取り扱い企業: プネウム株式会社 本社

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