崩壊遅延するOD錠の内部状態観察

原因がビジュアル的に明らかとなり、顧客での改善に向けた検討方針策定に寄…

苛酷試験前後のOD錠の内部構造の変化を捉えることで、顧客工程改善の 一助となった事例をご紹介します。 X線CTは非破壊で試料内部のX線吸収率の空間的な分布を可視化する手法。 試料内部が変化すると、試料内部のX線吸収率分布に変化が起こる場合があり、 定量化することで、試料内部でどのような変化が起きたかの...

メーカー・取り扱い企業： 東芝ナノアナリシス株式会社