崩壊遅延するOD錠の内部状態観察東芝ナノアナリシス

原因がビジュアル的に明らかとなり、顧客での改善に向けた検討方針策定に寄与！

苛酷試験前後のOD錠の内部構造の変化を捉えることで、顧客工程改善の
一助となった事例をご紹介します。

X線CTは非破壊で試料内部のX線吸収率の空間的な分布を可視化する手法。
試料内部が変化すると、試料内部のX線吸収率分布に変化が起こる場合があり、
定量化することで、試料内部でどのような変化が起きたかの推測が可能。

一定の大きさの領域内でのX線吸収率のヒストグラムの形状を表す値
「歪度」は、試料内部の状態を表す有用な量の一つです。

【データの取得と解析の流れ】
■試料
■X線CT観察
■3次元X線吸収率データ
■データ解析
■複数の領域内の吸収率分布の歪度の3次元分布

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関連リンク - https://www.nanoanalysis.co.jp/business/pharma/19/

基本情報崩壊遅延するOD錠の内部状態観察

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取扱企業崩壊遅延するOD錠の内部状態観察

東芝ナノアナリシス株式会社

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