【資料】しるとくレポNo.39＃カーブトレーサでの評価

測定環境に合ったカスタマイズも対応可能！カーブトレーサ自動測定システム…

★★しるとくレポ　知って得するお役立ち情報★★ 皆さんはMOSFETやバイポーラトランジスタ等の半導体の電気特性を 評価する際、どのような計測器を使用されていますか？ 専用のテスタもありますが、手軽に評価できるカーブトレーサも 便利ですよね。でもカーブトレーサを使用する時、「評価項目が多いから、 手動で操作は面倒だな…」、「評価数も多いから、もっと簡単に操作 できたらいいな…」と思...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社Wave Technology

【資料】しるとくレポNo.19＃電子機器の構造評価

構造評価で確認すべき内容！落下試験、防水試験について解説

★★しるとくレポ　知って得するお役立ち情報★★ 当レポートでは、モバイル通信機器の開発・設計業務で行う代表的な 評価(落下試験、防水試験)についてご紹介しております。 落下試験は、筐体の強度を確認するのに最初に行う試験です。防水試験は、 防水に関する保護等級がIEC(国際電気標準会議)やJIS(日本工業規格)で 定められており、製品目的に合った試験方法を選択する必要があります。 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社Wave Technology

【資料】しるとくレポNo.11＃光半導体

光半導体はなぜ故障するの？光による故障についてもう少しだけ詳しく説明し…

★★しるとくレポ　知って得するお役立ち情報★★ みなさんは半導体の故障といえばどのような故障を思い浮かべますか？ まず、思い浮かぶのは静電気による破壊でしょうか？ もちろん、光半導体もこの静電気で故障してしまいますが、光半導体は 光が原因でも故障してしまいます。 当レポートでは、光による故障についてもう少しだけ詳しく説明します。 【掲載内容】 ■光による故障について ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社Wave Technology