株式会社Wave Technology 【資料】しるとくレポNo.39＃カーブトレーサでの評価
- 最終更新日：2022-04-05 11:53:41.0
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測定環境に合ったカスタマイズも対応可能！カーブトレーサ自動測定システムをご紹介
★★しるとくレポ 知って得するお役立ち情報★★
皆さんはMOSFETやバイポーラトランジスタ等の半導体の電気特性を
評価する際、どのような計測器を使用されていますか？
専用のテスタもありますが、手軽に評価できるカーブトレーサも
便利ですよね。でもカーブトレーサを使用する時、「評価項目が多いから、
手動で操作は面倒だな…」、「評価数も多いから、もっと簡単に操作
できたらいいな…」と思ったことはありませんか？
これらの要望を満足できれば、膨大な評価時間から解放されますよね。
そこでご紹介させて頂きたいのが『カーブトレーサ自動測定システム』です。
詳細については、是非ご一読ください。
【掲載内容】
■カーブトレーサ自動測定システム
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基本情報【資料】しるとくレポNo.39＃カーブトレーサでの評価
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カタログ【資料】しるとくレポNo.39＃カーブトレーサでの評価
取扱企業【資料】しるとくレポNo.39＃カーブトレーサでの評価
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半導体およびその応用製品の開発・設計 ◇高周波・光半導体の設計・開発 ◇筐体・機構設計、シミュレーション ◇パワーエレクトロニクス関連設計・開発 ◇アナログ・デジタル電気回路の設計・開発 ◇カスタム計測システム設計、半導体パッケージ設計
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