• 高性能ウェハ・マスク破断装置『AMCシリーズ』 製品画像

    高性能ウェハ・マスク破断装置『AMCシリーズ』

    SEM用断面観察試料を簡単に作製!最小±2.5μmの位置精度でのけがき…

    【ラインアップ】 ■AMC-7600:AMCシリーズ基本形 ■AMC-7800:CCDカメラを搭載して操作性がUP ■AMC-8000:最高機種(高いけがき位置精度) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アプコ

  • 破断装置『AMC-7800』 製品画像

    破断装置『AMC-7800』

    作業性を大幅に改善!

    【仕様】 ■ケガキ精度:±15.0μm ■光学系:単眼ズーム式実態顕微鏡 ■画像系:CCDカメラ+15インチ液晶 ■倍率:約22倍~約140倍 ■本体サイズ:445W×535D×650H(mm) ■本体重量:約50kg ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アプコ

  • 破断装置『AMC-8000』 製品画像

    破断装置『AMC-8000』

    ケガキ精度±2.5μmを実現!

    【仕様】 ■ケガキ精度:±2.5μm ■光学系:単眼ズーム式実体顕微鏡 ■画像系:CCDカメラ+20インチ液晶 ■倍率:約70倍~約450倍 ■本体サイズ:650W×550D×750H(mm) ■本体重量:約78kg ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アプコ

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