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研究開発用マルチレンジスペクトロメータ『INVENIO X』
次世代のINVENIOプラットフォームを完成させ、先端研究開発用FT-…
【その他特長】 ■遠赤外、近赤外、可視 / 紫外領域への拡張、フィールドアップグレード対応 ■INTEGRAL干渉計とMultiTectテクノロジーにより遠赤外から可視/紫外領域までのマルチスペクトル測定を完全自動化 ■高度な測定と解析に対応するOPUSソフトウ...
メーカー・取り扱い企業: ブルカージャパン株式会社 オプティクス事業部
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