分光エリプソメーター GES5E

薄膜光学特性を非破壊で測定！ 手軽に高精度測定できる分光エリプソメト…

理特性】 ○膜厚と光学屈折率(n,k)　○屈折率の勾配と材料組成 【アプリケーション】 ○半導体　○シリコン、有機、化合物半導体　○太陽電池　○有機EL　○LED　○ポリマー　○フラットパネルディスプレイ（ＦＰＤ）　○医療、バイオ　○ＰＥＴフィルム　○燃料電池　○グラフェン 【仕様】 ○波長範囲：190nm-2400nm　○測定スピード：全波長範囲　1秒～ ...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

薄膜太陽電池パネル測定装置

薄膜太陽電池パネル測定装置

フラットパネルディスプレイ製造マーケットでは、品質管理用途にて非常に多くの実績がございます。...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社