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薄膜光学特性を非破壊で測定! 手軽に高精度測定できる分光エリプソメト…
理特性】 ○膜厚と光学屈折率(n,k) ○屈折率の勾配と材料組成 【アプリケーション】 ○半導体 ○シリコン、有機、化合物半導体 ○太陽電池 ○有機EL ○LED ○ポリマー ○フラットパネルディスプレイ(FPD) ○医療、バイオ ○PETフィルム ○燃料電池 ○グラフェン 【仕様】 ○波長範囲:190nm-2400nm ○測定スピード:全波長範囲 1秒~ ...
メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社
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非接触式の重金属汚染・CV/IV・膜評価装置。 鉄濃度測定の感度はD…
定可能(SLモデル) ■PDM 【主な測定・評価項目】 ■汚染管理 -DSPVによる拡散長測定 -鉄濃度測定(E8レベル) ■膜評価 - 電気的膜厚(CET/EOT) - フラットバンド電圧(VFB) - 界面準位等(Dit)の測定 - リークIV測定 - Epi抵抗率測定 - High-k評価 - Low-k評価...
メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社
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薄膜太陽電池パネル測定装置
フラットパネルディスプレイ製造マーケットでは、品質管理用途にて非常に多くの実績がございます。...
メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社
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FastGateインライン向けCV・IV測定装置ECV-2500
FastGate インライン向けCV・IV測定装置
ング、極薄酸化膜(<20Å)の電気的膜厚測定 SiON 膜,High k膜の誘電率測定、Epi の 抵抗率測定などが可能です。 主な測定・評価項目 ・電気的膜厚(CET/EOT) ・フラットバンド電圧(VFB) ・界面準位等(Dit)の測定 ・リークIV測定 ・USJ(40nm以下)の低ドーズイオン注入量モニタリング ・Epi抵抗率測定 ...
メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社
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