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コンパクト&高速計測!200V耐圧仕様のパワーデバイステスター(半導体…
トランジスタが2次降伏を起こさないかの試験 ■サージ耐量ダイオード ・非繰返しピーク順電流“IFSM” ■ゲート電荷量 ・ゲート入力電荷量“QG” ■エージング試験 ■耐圧試験(高電圧リレー回路製作) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社日本技術センター
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【SiC・GaN対応】パワーデバイステスター(半導体テスター)
SiC、GaNなど新素材に対応すべく、高耐圧、高速スイッチング用途の計…
Nトランジスタが2次降伏を起こさないかの試験 ・サージ耐量(ダイオード):非繰り返しピーク順電流“IFSM” ・ゲート電荷量:ゲート入力電荷量“QG” ・エージング試験 ・耐圧試験(高電圧リレー回路製作) ※詳しくは資料をご覧ください。お問い合わせもお気軽にどうぞ。...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社日本技術センター
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