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    薄膜膜厚・ヤング率測定装置 SW3300

    薄膜膜厚・ヤング率測定装置

    パルスレーザーを薄膜表面に 照射し、薄膜上で熱に変換されたエネルギーが 薄膜を熱膨張させる。 局所的に膨張した薄膜表面では音響振動が発生する。この音響振動の周波数 を物理モデルに導入し薄膜の膜厚やヤング率...

    メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

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