• 【技術資料】表面汚染のハイスループットスクリーニング 製品画像

    【技術資料】表面汚染のハイスループットスクリーニング

    分析作業効率の飛躍的な向上はもちろん、新たなアプリケーションも期待され…

    赤外顕微鏡「HYPERION II」は、従来の顕微FT-IR測定に加え、QCLによる 赤外レーザーイメージングに対応します。 当資料では、「FT-IRを用いた精密機械のQA/QCについて」をはじめ、 「関心領域(ROI:Regions Of Interest)の迅速な検出」や「赤外レーザー イメージングを使用したROIの検出」などを掲載。 QCLとFT-IRとのコンビネーションは...

    メーカー・取り扱い企業: ブルカージャパン株式会社 オプティクス事業部

1〜1 件 / 全 1 件
表示件数
30件
  • < 前へ
  • 1
  • 次へ >

※このキーワードに関連する製品情報が登録
された場合にメールでお知らせします。

  • 4校_0617_orionkikai_300_300_2045050.jpg