ブルカージャパン株式会社 【技術資料】表面汚染のハイスループットスクリーニング
- 最終更新日:2024-11-18 09:36:29.0
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分析作業効率の飛躍的な向上はもちろん、新たなアプリケーションも期待されます!
赤外顕微鏡「HYPERION II」は、従来の顕微FT-IR測定に加え、QCLによる
赤外レーザーイメージングに対応します。
当資料では、「FT-IRを用いた精密機械のQA/QCについて」をはじめ、
「関心領域(ROI:Regions Of Interest)の迅速な検出」や「赤外レーザー
イメージングを使用したROIの検出」などを掲載。
QCLとFT-IRとのコンビネーションは、ROIの速やかな検出と、それらの情報に
基づくより正確な定性分析を実現します。
【掲載内容】
■FT-IRを用いた精密機械のQA/QCについて
■関心領域(ROI:Regions Of Interest)の迅速な検出
■FT-IRとQCLのコンビネーションによるメリット
■赤外レーザーイメージングを使用したROIの検出
■FT-IRによる分析の信頼性の向上
■FT-IRとレーザーイメージング:強力なコンビネーション
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基本情報【技術資料】表面汚染のハイスループットスクリーニング
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