ブルカージャパン株式会社 【技術資料】表面汚染のハイスループットスクリーニング
- 最終更新日:2024-12-02 08:53:50.0
- 印刷用ページ
分析作業効率の飛躍的な向上はもちろん、新たなアプリケーションも期待されます!
赤外顕微鏡「HYPERION II」は、従来の顕微FT-IR測定に加え、QCLによる
赤外レーザーイメージングに対応します。
当資料では、「FT-IRを用いた精密機械のQA/QCについて」をはじめ、
「関心領域(ROI:Regions Of Interest)の迅速な検出」や「赤外レーザー
イメージングを使用したROIの検出」などを掲載。
QCLとFT-IRとのコンビネーションは、ROIの速やかな検出と、それらの情報に
基づくより正確な定性分析を実現します。
【掲載内容】
■FT-IRを用いた精密機械のQA/QCについて
■関心領域(ROI:Regions Of Interest)の迅速な検出
■FT-IRとQCLのコンビネーションによるメリット
■赤外レーザーイメージングを使用したROIの検出
■FT-IRによる分析の信頼性の向上
■FT-IRとレーザーイメージング:強力なコンビネーション
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報【技術資料】表面汚染のハイスループットスクリーニング
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
価格帯 | お問い合わせください |
---|---|
納期 | お問い合わせください |
用途/実績例 | ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 |
カタログ【技術資料】表面汚染のハイスループットスクリーニング
取扱企業【技術資料】表面汚染のハイスループットスクリーニング
【技術資料】表面汚染のハイスループットスクリーニングへのお問い合わせ
お問い合わせ内容をご記入ください。