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    クリーンルーム用『キムテックA8+カバーオール』 ※サンプル進呈

    PR抜群の通気性、防護性、快適性、コストパフォーマンスを提供します!シング…

    『キムテックA8+カバーオール』は、お客様のストレス軽減とコンタミネーションのリスクを低減できるようデザインされたクリーンルーム用ウェアです。 抜群の通気性と防護性を兼ね備えた肌触りの良いSMS素材は、クリーンルームでの作業を快適にし生産性を向上させます。 フード付きだけなく、袖のめくり上がり防止の親指ループで手首や腕の暴露も防止します。 また、独自の折りたたみデザインで着用時に...

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    メーカー・取り扱い企業: キムテック(Kimtech)・ビジネスユニット 旧キンバリークラーク・サイエンティフィックPPE事業部

  • シワ改善&肌荒れ改善の新規ペプチド 製品画像

    シワ改善&肌荒れ改善の新規ペプチド

    PR【化粧品表示名称取得】『即時的』にしわ改善効果、肌荒れ改善効果が期待で…

    『BGT(TM) TDP-1』は、シワ形成の原因に直接アタックしてシワを改善する新規ペプチド成分です。 Bio Genetic Technology LLCが独自に開発したこの革新的な抗シワポリペプチドは、13種類のアミノ酸からなる球状構造を持ち、塗布後15分以内に急速なシワ低減効果を示します。 これにより、即効的なアンチエイジングを実現します。 さらに、長期間の連用によって皮膚の滑らか...

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    メーカー・取り扱い企業: 島貿易株式会社

  • 【分析事例】AI技術を用いたCT画像のアーチファクト低減 製品画像

    【分析事例】AI技術を用いたCT画像のアーチファクト低減

    AI技術でCT画像のメタルアーチファクトを低減し画像解析精度を向上!

    ることがあり、 内部構造の測長や画像解析における妨げとなります。 本資料では試料の材質情報と物理モデルを基にCT画像再構成の最適化を行った事例をご紹介します。 本技術によりアーチファクトを低減することができ、より鮮明な内部構造評価が可能です。 測定法:X線CT、計算科学・データ解析 製品分野:電子部品、製造装置・部品、LSI・メモリ、日用品 分析目的:形状評価、構造評価 ...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】FIB低加速加工 製品画像

    【分析事例】FIB低加速加工

    FIB:集束イオンビーム加工

    試料作製法では、高エネルギーのGaイオン(加速電圧30kV)を用いており、加工面にダメージ層が生じ、TEMの像質低下の原因となっています。そこで従来より低加速(2kV)の加工を行うことでダメージ層が低減でき、像質が改善されました。 FIB低加速加工によりFIB加工面のダメージを低減することで、TEM像観察、EELS測定において高品質で信頼性の高いデータが得られます。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 第一原理計算によるワイドギャップ半導体GaNにおける欠陥準位解析 製品画像

    第一原理計算によるワイドギャップ半導体GaNにおける欠陥準位解析

    点欠陥の形成エネルギー、電荷、光学遷移など様々な物性情報が得られます

    半導体である窒化ガリウム(GaN)は主にパワーデバイスの分野で用いられ、近年では急速充電器や5G通信基地局用途としての需要が高まっています。高信頼性を有するGaNの開発にあたっては、結晶中の欠陥量の低減や欠陥がもたらす電気/光学特性などへの影響の理解が重要です。本資料では第一原理計算を用いてGaN中の窒素欠損(VN)が形成する欠陥準位の解析を行った事例を紹介します。本解析は欠損だけでなく、元素の置...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】注射針表面のコーティング膜評価 製品画像

    【分析事例】注射針表面のコーティング膜評価

    撥水膜・塗膜・皮膜の分布状態や被覆状態の可視化

    医療用注射針は金属管の表面にシリコーンをコーティングすることで、穿刺抵抗を低下させ患者の身体的負担を低減させています。針の性能を保つためには、全体がコーティング膜に覆われていることが重要です。注射針先端の開口部分についてTOF-SIMSでイメージング分析を行い、コーティング膜が被膜されているか評価を行...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】Si基板へのAl,Gaの拡散評価 製品画像

    【分析事例】Si基板へのAl,Gaの拡散評価

    SSDP-SIMSによる高濃度層の影響を避けた測定

    コスト低減の観点から、GaNを材料としたパワーデバイスの基板には高抵抗Si基板の活用が期待されています。しかしながら、高温で成膜する際にAl,GaがSi基板表面に拡散してしまうと、低抵抗層が形成されリークの原...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】マイクロサンプリングツールを用いた異物分析 製品画像

    【分析事例】マイクロサンプリングツールを用いた異物分析

    下地・基板の影響なく異物の成分を同定します

    異物分析について、従来は下地の影響により顕微FT-IR分析やラマン分析では解析が困難でしたが、マイクロサンプリングツールの導入により、その影響を低減することが可能となりました。 2種の異物に関する解析例をご紹介します。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

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