• クリーンルーム用『キムテックA8+カバーオール』 ※サンプル進呈 製品画像

    クリーンルーム用『キムテックA8+カバーオール』 ※サンプル進呈

    PR抜群の通気性、防護性、快適性、コストパフォーマンスを提供します!シング…

    『キムテックA8+カバーオール』は、お客様のストレス軽減とコンタミネーションのリスクを低減できるようデザインされたクリーンルーム用ウェアです。 抜群の通気性と防護性を兼ね備えた肌触りの良いSMS素材は、クリーンルームでの作業を快適にし生産性を向上させます。 フード付きだけなく、袖のめくり上がり防止の親指ループで手首や腕の暴露も防止します。 また、独自の折りたたみデザインで着用時に...

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    メーカー・取り扱い企業: キムテック(Kimtech)・ビジネスユニット 旧キンバリークラーク・サイエンティフィックPPE事業部

  • 排水処理薬剤 日本アルシー薬品カタログ 製品画像

    排水処理薬剤 日本アルシー薬品カタログ

    PRコスト削減、環境負荷低減、バルキング対策...etc.様々なニーズにお…

    日本アルシーで取り扱っている薬剤を大きく分けて下記の4種類ご紹介しています。 排水処理薬剤変更を検討されている方は、ぜひこちらのカタログからご検討ください。 『アルシーフロックN100シリーズ』 無機成分によらない1次凝集剤であり、発生する凝集汚泥を削減します。 『高分子凝集剤アルシーフロックシリーズ』 高分子成分による2次凝集剤です。一般的なものよりも凝集性が高く、安定した処理を行うことがで...

    メーカー・取り扱い企業: 日本アルシー株式会社 本社

  • 【分析事例】AI技術を用いたCT画像のアーチファクト低減 製品画像

    【分析事例】AI技術を用いたCT画像のアーチファクト低減

    AI技術でCT画像のメタルアーチファクトを低減し画像解析精度を向上!

    ることがあり、 内部構造の測長や画像解析における妨げとなります。 本資料では試料の材質情報と物理モデルを基にCT画像再構成の最適化を行った事例をご紹介します。 本技術によりアーチファクトを低減することができ、より鮮明な内部構造評価が可能です。 測定法:X線CT、計算科学・データ解析 製品分野:電子部品、製造装置・部品、LSI・メモリ、日用品 分析目的:形状評価、構造評価 ...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】FIB低加速加工 製品画像

    【分析事例】FIB低加速加工

    FIB:集束イオンビーム加工

    試料作製法では、高エネルギーのGaイオン(加速電圧30kV)を用いており、加工面にダメージ層が生じ、TEMの像質低下の原因となっています。そこで従来より低加速(2kV)の加工を行うことでダメージ層が低減でき、像質が改善されました。 FIB低加速加工によりFIB加工面のダメージを低減することで、TEM像観察、EELS測定において高品質で信頼性の高いデータが得られます。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 第一原理計算によるワイドギャップ半導体GaNにおける欠陥準位解析 製品画像

    第一原理計算によるワイドギャップ半導体GaNにおける欠陥準位解析

    点欠陥の形成エネルギー、電荷、光学遷移など様々な物性情報が得られます

    半導体である窒化ガリウム(GaN)は主にパワーデバイスの分野で用いられ、近年では急速充電器や5G通信基地局用途としての需要が高まっています。高信頼性を有するGaNの開発にあたっては、結晶中の欠陥量の低減や欠陥がもたらす電気/光学特性などへの影響の理解が重要です。本資料では第一原理計算を用いてGaN中の窒素欠損(VN)が形成する欠陥準位の解析を行った事例を紹介します。本解析は欠損だけでなく、元素の置...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】注射針表面のコーティング膜評価 製品画像

    【分析事例】注射針表面のコーティング膜評価

    撥水膜・塗膜・皮膜の分布状態や被覆状態の可視化

    医療用注射針は金属管の表面にシリコーンをコーティングすることで、穿刺抵抗を低下させ患者の身体的負担を低減させています。針の性能を保つためには、全体がコーティング膜に覆われていることが重要です。注射針先端の開口部分についてTOF-SIMSでイメージング分析を行い、コーティング膜が被膜されているか評価を行...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】Si基板へのAl,Gaの拡散評価 製品画像

    【分析事例】Si基板へのAl,Gaの拡散評価

    SSDP-SIMSによる高濃度層の影響を避けた測定

    コスト低減の観点から、GaNを材料としたパワーデバイスの基板には高抵抗Si基板の活用が期待されています。しかしながら、高温で成膜する際にAl,GaがSi基板表面に拡散してしまうと、低抵抗層が形成されリークの原...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】マイクロサンプリングツールを用いた異物分析 製品画像

    【分析事例】マイクロサンプリングツールを用いた異物分析

    下地・基板の影響なく異物の成分を同定します

    異物分析について、従来は下地の影響により顕微FT-IR分析やラマン分析では解析が困難でしたが、マイクロサンプリングツールの導入により、その影響を低減することが可能となりました。 2種の異物に関する解析例をご紹介します。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

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