CalibratARマイクロスケール 3D校正用リファレンス

AFMを校正するためのAFM/SPM校正基準と標準サンプル

CalibratAR校正用リファレンスは、多様な顕微鏡の評価や校正などの目的に使用できます。その適用範囲は、走査型プローブ顕微鏡、原子間力顕微鏡、電子顕微鏡、光学顕微鏡、さらにはスタイラスや光学プロファイラーなど多岐にわたります。３次元の評価のために、リファレンスのサンプルデザインには３つの直交方向の形状を組込んでいます。...

メーカー・取り扱い企業： オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社