• ネジ山をなめてしまった…その課題『エンザート』が解決します! 製品画像

    ネジ山をなめてしまった…その課題『エンザート』が解決します!

    PR壊れたネジ穴を再生・補修して強度もアップ!タップ立て不要で、めねじやコ…

    部品のネジ山(めねじ)が破損した場合、どうしていますか? 「ヘリサート・リコイルなどのコイルインサートを使用している」 「サイズアップで立て直しをしている」 「部品交換をしている」 など様々な対応をされているかと思います。 エンザートならその部品を救えるかもしれません! ケー・ケー・ヴィ・コーポレーションが取り扱う『エンザートSBE』は、垂直出しが容易な三つ穴タイプのインサートナットです。 先...

    メーカー・取り扱い企業: ケー・ケー・ヴィ・コーポレーション株式会社

  • 【分析事例】α-アルミナ(α-Al2O3)のTDS分析 製品画像

    【分析事例】α-アルミナ(α-Al2O3)のTDS分析

    セラミックスの昇温脱離ガス分析

    熱的に安定なα-アルミナは耐熱材料、半導体パッケージ、半導体製造装置の部品など、幅広い用途で 利用されており、中でも緻密質のα-アルミナは真空装置の部材としても用いられます。しかしこのような 部材が昇温された際に発生するガスは製品や装置に悪影響を及ぼすこと...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】SiC基板表面および内部の不純物濃度測定 製品画像

    【分析事例】SiC基板表面および内部の不純物濃度測定

    ICP-MS, GDMSにより基板表面と内部とを切り分けて分析

    半導体材料に含まれる不純物は、リーク電流の発生やデバイスの早期故障等、製品の品質に影響する場合があります。従って、材料に含まれる不純物量を把握することは、製品の品質向上において重要です。本資料では、パワーデバイス材料として注目されているSiC基板について、基板表面に付着した不純物をICP-MS、基板中の不純物をGDMSで分析した事例をご紹介します。 測定法:ICP-MS・GDMS 製品分野:パ...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

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