• モデル 2010/M プリズム カプラー 製品画像

    モデル 2010/M プリズム カプラー

    薄膜、バルク材の 複屈折 (x、y、z)を測定することができます。

    ● 特長 • 情報不要 – 事前に薄膜/基板の光学特性の情報不要 • 屈折率精度 ±0.0005 (最大精度 ±0.0001)可能 • アプリケーションにより 屈折率精度はさらに ±0.0003 (最大精度 ±0.00005) へ向上...

    メーカー・取り扱い企業: プネウム株式会社 本社

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