ご希望者全員プレゼント！表面分析の基礎と受託分析事例

〈XPS・TOF-SIMS〉 表面分析とは何か・表面分析の種類等、基…

　X線光電子分光法 　　　・TOF-SIMS　飛行時間型二次イオン質量分析法 　■分析事例 　　　・XPSによるSiC表面の状態・膜厚評価 　　　・Cu表面の酸化状態の定量 　　　・XPS多点測定による広域定量マッピング 　　　・XPSによるDLCの評価 　　　・リチウムイオン二次電池におけるLiの結合状態別定量 　　　・プラズマ処理によるぬれ性変化の原因調査 　　　・ケミカルシ...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

日本システム・エイト株式会社　開発実績のご紹介

日本システム・エイト株式会社の開発実績を多数ご紹介

【主な開発実績実績】 ■VCB自動試験装置 ■S-SG総合試験装置 ■無線式多点同時計測システム ■自動基板チェッカー ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 日本システム・エイト株式会社