顕微分光膜厚計 『OPTM series』

これまでの膜厚計のお悩みをこれ1台で解決。1ポイント1秒測定＆測定エリ…

顕微分光を用いた微小領域での絶対反射率測定により、高精度な膜厚・光学定数解析が可能な装置です。 各種フィルムやウェーハ、光学材料などのコーティング膜の厚みや多層膜を非破壊・非接触で測定できます。 測定時間は1秒/pointの高速測定が可能で初めての方でも簡単に光学定数の解析ができるソフトウェアを搭載しています。 【これまでの膜厚計のお悩み】 ■接触式／非接触式どちらでも測定が難しい素材がある ■...

メーカー・取り扱い企業： 大塚電子株式会社