システム『M-Scope typeS／NFP計測システム』

ビームスポット観察から高度な光学特性解析まで対応可能！

、ビームスポット観察から 光デバイスの高度な光学特性解析まで対応可能な、高機能光ビーム観察・ 計測光学系M-Scope typeSとその専用処理システムです。 最高200倍の光学倍率（対物レンズ100倍使用時）で、微小スポットの観察・ 解析にも対応しています。 独自開発の高機能光ビーム解析ソフトウェアOptometricsにより、 光ビームパターン解析から光モジュールの実装組...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社

高出力レーザ用高機能NFP計測装置

～10Wクラス高出力レーザ用高機能型光ビームプロファイル計測・NFP計…

、～10Wクラス高出力レーザのNFP計測に 対応した光ビーム形状計測装置です。 光学系は、当社製ハイパワーレーザ用高機能NFP計測光学系M-Scope type HS、 高パワー耐性型対物レンズの装着による近視野像（NFP）の計測が可能。 また、対物レンズを介さない状態で計測することで、狭角角度範囲での 放射角度分布（FFP）計測も可能です。 【特長】 ■ハイパワーレー...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社

偏光測定モジュール『PMD002/POL』

空間光測定対応！各種光ファイバやLDの他、VCSELのウエハレベル測定…

『PMD002/POL』は、空間偏光子回転方式の偏光消光比測定モジュールです。 コリメートされた入射光の偏光状態を直接測定します。 対物レンズを使用すれば、光ファイバや半導体レーザの出射偏光状態を測定できます。 また、偏光測定センサヘッドは、単体での使用の他、プローバへの 搭載・組合せによって、VCSEL等のウエハレベル偏光測...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社