【半導体製造装置関連】集積回路測高検査装置2型

計測後NG品を自動排出！自動ローディングされたJEDECトレー内ICの…

『集積回路測高検査装置2型』は、視野角10mm内、高さ0.7mm以内の高さ計測が可能な製品です。 スロットマガジンに格納されているリードフレーム(最大30×50)を1枚ずつ計測ステージにローディングし、高さ計測を実施。 検査結果によるNG排出を行い、空ポケットに良品ワークを自動充填します。 当社は、FA装置の開発・設計から組立調整、設置、納品後のメンテナンスや改善・改造提案まで一貫したサービス...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ライズワン

【製作実績紹介】半田付け外観検査装置

基板上の半田付け状態を検査する装置

基板半田付け外観検査装置...掲載装置は参考品となっております。類似品または全く新しい装置の作成に対応致しますので、先ずはお気軽にお問合せ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ライズワン