• カット野菜用異物除去装置『UDW-Fseries』 製品画像

    カット野菜用異物除去装置『UDW-Fseries』

    PR肉眼では見つけづらい同色の異物もピンポイントで検出・除去。機器選定のフ…

    『UDW-Fseries』は、カット野菜を特殊赤外線カメラにより上下両面から検査し、 検出した異物をイジェクターでピンポイントに除去する装置です。 肉眼では見つけづらい同色の異物が混入している場合にも、高精度に検出・除去可能。 変色した葉の検出もできる、色彩検出機能が付いたタイプもラインアップしています。 ★他にも、様々な検出方式に対応した食品用異物除去装置を提供しています。  ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社服部製作所

  • 【省人化に貢献】麺帯外観検査装置 既存ラインに後付け可能! 製品画像

    【省人化に貢献】麺帯外観検査装置 既存ラインに後付け可能!

    PRラインカメラ表裏面検査仕様!麺帯の表面異物を自動外観検査します

    『麺帯外観検査装置』は、麺帯の微妙な変化に照明の明るさを自動で 変化させ、検査基準のコントラストに合わせる事が出来る為、誤検知を 減らす事が可能な検査装置です。 NG箇所をスクロールマップで表示している為、NG箇所の発生場所が一目瞭然。 検査中にNG箇所の画像のみを表示することができます。 【特長】 ■粉塵対策(カメラ:BOX収納、照明:エアーブロー付き) ■NG箇所をスクロールマップで表示...

    • 麺帯制御盤.png
    • 検出例.png

    メーカー・取り扱い企業: 藤田グループ

  • 高輝度ハロゲン光源装置『YP-1501』 製品画像

    高輝度ハロゲン光源装置『YP-1501』

    超精密平面検査に最適な高輝度ハロゲン光源装置!驚異的な照明にて0.2μ…

    『YP-1501』は、半導体ウエハー及び液晶基盤の加工途中で最も人手が掛かる最終仕上げ面の異物、スクラッチ、研磨ムラ、ヘイズ、スリップ等の様々な欠陥検出を見るためのマイクロ観察用照明装置です。試料表面を400,000Lx以上に照明することができます。また、光源にはハロゲンランプを使用しているため色温度は高く、照明ムラが少なく、非常に安定したシャープな照明となっています。 【特長】 ■光源に...

    メーカー・取り扱い企業: 山田光学工業株式会社

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